판매용 중고 HITACHI S-3700N #293778349

HITACHI S-3700N 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 생물학적, 의학적, 물리적 및 재료 과학 연구를 위해 설계된 매우 정밀하고 고성능 도구입니다. 고급 이미징 및 분석 기능을 갖춘 HITACHI S 3700 N을 사용하면 재료 구조와 표면을 자세히 시각화할 수 있습니다. S-3700N에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원이 장착되어 있어 매우 높은 해상도의 이미징과 광범위한 배율 수준이 가능합니다. 이차 및 역산포 전자를 사용하여 이미지를 캡처하고 자세한 3D 표면 형태, 구성 정보 및 원소 분포를 생성합니다. 추가 이미지 및 분석 모드에는 ILD (In-lens Detector), Low Vacuum, Scanning Transmission, Elementary (EDX) 및 EBSD (Electron Backscatter Diffraction) 가 포함됩니다. S 3700 N 은 자동화된 스테이징 및 탐색 기능, 멀티채널 자동 선택 기능, 고급 이미징/매핑 소프트웨어 툴을 통해 쉽고 안정적이고 재현가능한 성능을 제공합니다. 뛰어난 현장 깊이와 3 차원 재구성 기능이이 도구를 특히 샘플 단층 촬영에 적합하게 만듭니다. 또한 HITACHI S-3700N은 대형 챔버 진공 검출기, 가변 압력 (VP) 검출기, 분광기 검출기, 전자 에너지 손실 분광기 (EELS) 검출기, 에너지 필터링 변속기 (EFT) 검출기 및 에너지 감지기 등 다양한 검출기 옵션을 제공합니다. 또한, 표준 샘플 전송 및 아웃가스 기능을 갖춘 최적의 샘플 처리를 제공합니다. 전반적으로, HITACHI S 3700 N은 광범위한 연구 및 분석 응용에 적합한 매우 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 단순한 운영, 낮은 유지 관리 요구 사항, 탄탄한 이미징 (Imaging) 기능은 모든 실험실에서 큰 이점을 제공합니다. S-3700N (S-3700N) 은 다양한 복잡한 샘플의 이미징 및 분석을위한 매우 다재다능하고 정확한 도구입니다.