판매용 중고 HITACHI S-3600N #293775574

HITACHI S-3600N은 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로 사용자에게 고품질 스캔 이미지를 제공하도록 설계되었습니다. 이 기기는 가속 전압이 낮은 고성능, 이중 단계, 저진공 SEM (low-vacuum SEM) 을 특징으로하여 무기 및 유기 표본을 이미징하는 데 이상적입니다. S-3600N의 강력한 구성은 반복 가능한 이미지를 얻을 수 있도록 보장하며, 2nm (2nm) 의 높은 해상도를 갖습니다. HITACHI S-3600N에는 BSE (backscattered electron) 검출기가 장착되어 있으며, 이를 통해 연구원은 화학 및 미세 구조 분석을 수행 할 수 있습니다. 이 기기에는 또한 EDS (energy dispersive x-ray spectroscopy) 검출기가 포함되어 있으며, 이는 구성 분석에 유용합니다. S-3600N의 가변 압력 모드 (variable-pressure mode) 를 통해 연구원은 기존의 샘플 준비가 필요하지 않은 비 전도성 표본과 함께 일할 수 있습니다. HITACHI S-3600N (HITACHI S-3600N) 에는 통합 진공 시스템이 있으며, 이를 통해 연구원은 표본 단계의 진공 설정을 제어 할 수 있습니다. 이 로 말미암아, 표본 은 최적 의 결과 를 얻기 위해, 최적 의 상태 에 처하게 된다. 또한, S-3600N 에는 다양한 소프트웨어 패키지가 장착되어 있으며, 이를 통해 사용자는 실험 프로세스 전반에 걸쳐 획득한 이미지를 분석할 수 있습니다. 또한, HITACHI S-3600N은 환경 챔버 (environmental chamber) 를 가지고 있으며, 이를 통해 연구원들은 통제 된 분위기에서 실험을 수행 할 수 있습니다. 실험을 계속하는 동안 진공 수준을 유지할 수 있으므로, 수분 함량을 가진 표본을 연구 할 때 특히 유용합니다. 또한, 사용자는 S-3600N의 성능 최적화를 위해 습도 및 온도 수준을 조정할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S-3600N 은 강력하고 다양한 SEM 으로, 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 고급 고해상도 이미징 시스템, 통합 진공 시스템, 제어 실험을위한 환경 챔버 (Environmental Chamber) 가 있습니다. 또한 S-3600N 은 다양한 소프트웨어 패키지와 탐지기 (detector) 를 제공하며, 이를 통해 사용자는 표본에 대한 고급 분석을 수행할 수 있습니다.