판매용 중고 HITACHI S-3500N #9411750

HITACHI S-3500N은 나노 스케일 분야의 분석가, 연구원 및 과학자들에게 스캔 및 이미징 기능을 제공하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 최대 800kX까지의 배율을 달성 할 수 있으며, 기존 스캐닝 모드에서 최대 이론적 해상도는 1.4 nm (nm) 입니다. S-3500N 은 반도체, 데이터 스토리지, 생명 과학 애플리케이션 등 다양한 분야의 샘플에 적합합니다. SEM은 표준 장비와 통합 된 고해상도, 에너지 분산 X 선 검출기와 함께 작동합니다. 현미경은 샘플의 고해상도 이미지를 생성 할 수 있으며, 입자를 0.037 nm까지 감지 할 수 있습니다. 백스캐터 (backscatter) 검출기를 활용해 고대비 (high-contrast) 이미지를 만들어내며 충전 속도가 낮은 샘플을 감지하고 밝고 고품질의 이미지를 제공할 수 있는 향상된 저전압 (low-voltage) 1 차 총을 장착했다. 또한 HITACHI S-3500N 은 자동 정렬 시스템을 제공하여, 스캐닝을 쉽게 준비할 수 있습니다. 이 현미경은 정렬 매개변수 (alignment parameters) 를 자동으로 조정하고 샘플에 있을 수 있는 서피스 왜곡 (surface distortion) 을 보완할 수 있습니다. 이렇게 하면 이미지의 정확성이 최대한 명확해집니다. 또한, 현미경은 구성, 표면 지형 및 3 차원 구조를 포함하여 샘플에 대한 광범위한 정보를 수집 할 수 있습니다. 또한 S-3500N 은 다양한 운영 모드 (Operating Mode) 와 기능 (Function) 을 갖추고 있어 매개변수를 쉽게 조정하여 샘플에서 최상의 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 업무 거리 모니터 (Working Distance Monitor) 를 통해 운영 중 발생 가능한 충돌을 경고하여 안전하고 정확한 작동을 보장할 수 있습니다. 사용 편의성 및 유지 관리를 위해 HITACHI S-3500N 에는 자동 샘플 로드 장치 (Sample Loading Unit) 와 다양한 진단 모니터링 기능이 장착되어 있습니다. 또한 SEM (Micrograph Viewing Software) 을 통해 사용자는 현미경을 통해 이미지를 신속하게 분석하고 조작할 수 있습니다. 또한, 현미경에는 다양한 사용자 정의 가능 프로파일 (user profile) 이 포함되어 있으므로 특정 요구에 따라 현미경을 구성 할 수 있습니다. 전반적으로 S-3500N은 뛰어난 이미지 품질과 최첨단 기능을 제공하는 안정적이고 다재다능한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다양한 분야에서 일하는 연구원들과 과학자들에게 이상적이며, 자동화된 샘플로드 머신 (sample loading machine), 다양한 운영 모드 (operating mode), 나노 스케일 샘플의 정확한 이미징을위한 자동 정렬 도구 (automated alignment tool) 를 제공합니다.