판매용 중고 HITACHI S-3500H #9208243

HITACHI S-3500H는 HITACHI High-Technologies Corporation에서 개발 한 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최대 0.5 나노미터 (0.5 나노미터) 의 해상도와 최대 20mm의 이미지 크기를 제공하는 높은 이미징 정확도를 제공합니다. 기기의 고급 디지털 신호 처리 기능은 뛰어난 이미지 품질에 기여합니다. 또한, 다양한 기능과 첨단 기술 기능을 통해 사용자 운영을 촉진하여, 사용자가 보다 안정적이고 정확한 데이터를 얻을 수 있도록 지원합니다. 이 기기에는 디지털 신호 처리 장비 (digital signal processing equipment) 와 낮은 배율에서도 이미지 캡처가 가능한 고감도 디지털 이미징 시스템 (high-sensitivity digital imaging system) 이 장착되어 있습니다. 샘플 조사의 경우, 이 장치는 FEG (field-emission electron gun) 를 사용하여 고휘도 전자 빔을 제공하여 해상도를 높이고 명암을 개선합니다. 또한, 이 기계는 사용하기 쉽도록 설계되었으며, 목표의 신속하고 정밀한 정렬을 위해 개방형 하드웨어 아키텍처 (Open Hardware Architecture) 를 갖춘 반자동 (Semi-automated) 도구를 갖추고 있습니다. 이렇게 하면 보다 세부적인 수준으로 더 선명한 이미지를 신속하게 얻을 수 있습니다. 동작 의 경우, "에셋 '에는 물체 나 물질 의 표면 지형 을 탐사 하는" 파라미터' 의 수 가 증가 하여, 환경 요인 으로부터의 방해 를 받지 못한다. 이 모델은 다양한 확대 (magnification) 방식으로 표본의 스펙트럼 정보를 수집할 수 있으며, 이는 향상된 이미징 기능을 제공합니다. 또한 사용자가 샘플에 있는 여러 요소를 식별할 수 있습니다. 이 기기는 높은 배율 (high-magnization) 기능을 통해 집적 회로 (integrated circuit) 및 기타 미세 기계 부품과 같은 나노 스케일 (nanoscale) 기능의 이미징을 효과적으로 분석 할 수 있습니다. 이 기기의 소프트웨어에는 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface) 가 있으며, 다양한 제어 기능을 제공하며, 사용자가 매개변수를 사용자 정의할 수 있도록 하는 정교한 제어 장비를 갖추고 있습니다. 또한, 시스템은 정량적 분석 방법을 사용하여 더 높은 정밀도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 고급 (Advanced) 빼기 모드를 사용하면 불필요한 아티팩트와 노이즈를 제거할 수 있으므로 전반적인 정확도가 향상됩니다. 이 장치에는 다양한 자동 측정 옵션 (예:, 영역, 길이, 위치 측정) 이 있습니다. 또한 SEM (Automated Sample Handling and Navigation Machine) 은 자동화된 샘플 처리 및 내비게이션 머신 (Navigation Machine) 을 통해 빠르고 쉬운 샘플 전환을 통해 설정 및 작업에 소요되는 시간을 크게 줄일 수 있습니다. 또한, 이 도구는 복잡한 3D 샘플 구조를 쉽게 볼 수 있도록 3D 디스플레이와 통합되어, 사용자가 정확한 이미징 결과를 얻을 수 있도록 도와줍니다. 마지막으로, 기기는 EDS, EBSD, CLEM 등의 다양한 액세서리와 호환되며, 이를 통해 사용자는 장치의 성능을 더욱 최적화할 수 있습니다. 결국 S-3500H 는 다양한 기능과 기능을 제공하여 이미징 정확도를 높이고 이미지를 개선합니다. 다목적성과 첨단 기술 덕분에, 이 기기는 고품질, 신뢰성 있는 이미지를 제작할 수 있으며, 이 이미지를 사용하여 정교한 분석을 수행할 수 있습니다.