판매용 중고 HITACHI S-3500 #9286928

HITACHI S-3500 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 높은 배율 이미징 및 분석 기능을 제공하는 컴팩트하고 고성능 도구입니다. S-3500 SEM의 고해상도 디지털 이미징 기능을 통해 표면 형태 및 구성의 특성화가 가능합니다. 초점안정 (focus stability) 이 뛰어나므로 정확한 측정으로 고품질 이미지를 제작하는 데 이상적인 도구입니다. HITACHI S-3500 SEM은 0.2 ~ 30kV의 가속 전압을 갖는 장 방출 전자 소스를 특징으로합니다. 저해상도 (low-beam irradiation) 는 고해상도 분석 이미징 및 분석을 위한 높은 확대 이미징에 이상적입니다. S-3500 SEM은 또한 높은 반음계 수차 교정 대상 렌즈와 렌즈 수차를 줄이기 위해 저전압 열을 가지고 있습니다. 이러한 기능을 통해 HITACHI S-3500 SEM은 인슐레이터, 폴리머 및 비전도 샘플을 관찰하는 데 이상적입니다. S-3500에는 Everhatt 유형 가변 압력 2 차 전자 (SE) 검출기, 복고풍 유형 BSE (back-scattered electron) 검출기, 안정적인 총/2 차 전자 이미징 시스템, Back Focus 제어 및 SEM 신호 전자 곱셈기. 이러한 이미징 및 분석 시스템은 뛰어난 해상도, 낮은 진공 이미징 기능, 표면 미세 구조 및 조성을 평가하는 기능을 제공합니다. 또한 HITACHI S-3500에는 자동 초점 시스템 (auto-focusing system) 과 고전압 스캐닝 빔 제어 (High Voltage Scanning Beam Control) 가 포함되어 있어 정확하고 정확한 이미지 획득이 가능합니다. 자동 이미지 밝기 및 대비 제어는 이미징 품질을 최적화하는 데 도움이 됩니다. 이 시스템에는 필드 표본 어댑터 (field simimen adaptor) 도 포함되어 있어 샘플을 정확하고 쉽게 정렬할 수 있습니다. S-3500 SEM에는 직관적이고 사용하기 쉬운 그래픽 사용자 인터페이스를 제공하는 EverView 소프트웨어도 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 이미지 측정, 분석, 최적화를 수행할 수 있으므로 HITACHI S-3500 을 고급 이미지/분석 애플리케이션에 이상적인 솔루션으로 활용할 수 있습니다. S-3500 SEM 은 고해상도 이미징을 캡처하고, 서브 미크론에서 밀리미터 (mm) 스케일까지 물체를 분석하는 고급 고성능 도구입니다. 고급 이미징 및 분석 시스템과 결합된 안정성과 안정성은 HITACHI S-3500 (HITACHI S-3500) 을 고성능 이미징 및 분석이 필요한 모든 애플리케이션에 이상적인 툴로 만듭니다.