판매용 중고 HITACHI S-3400N #9153016

HITACHI S-3400N은 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로, 소음 성능에 대한 신호가 뛰어난 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 이 고급 SEM은 나노 스케일 분석, 반도체 장치 제작, 표면 과학 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. HITACHI S-3400 N의 고급 광학 장비는 수차 교정 Schottky 전장 방출 전자 총을 사용하여 5 나노미터 미만의 스팟 크기로 최대 200 pA의 빔 전류를 가능하게합니다. 고유한 고정밀 스캔 메커니즘과 특허를 받은 디플렉터 (deflector) 설계는 이미지 왜곡과 최소 이미지 변위 없이 안정적인 이미지 형성을 보장합니다. 노브 (knob) 형 다중 모드 스캔을 사용하면 모든 방향으로 부드럽게 스캔할 수 있으며, 손가락 하나라도 쉽게 제어할 수 있습니다. S 3400 N에는 에너지 분산 엑스레이 분광법 (EDS) 시스템이 표준으로 제공되어 원소 분석 및 구성 매핑이 가능합니다. EDS 장치에는 새로 개발 된 X-TalTM ultra-thinSDD 반도체 검출기가 장착되어 있어 뛰어난 감지 효율성과 낮은 소음 성능을 제공합니다. 동적 라인 스캔 (Dynamic Line Scan) 기능을 통해 빠른 디지털 이미지를 획득하고 분석할 수 있으며, 실시간 세그먼트 분석 (Segment Analysis) 과 자동화된 디지털 분석 (Automated Digital Analysis) 기능을 통해 빠르고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. S-3400N의 디지털 데이터 획득 기계는 BMP, JPEG, TIFF 및 기타 일반 형식을 포함한 다양한 디지털 출력 형식을 지원합니다. 디지털 데이터 획득 도구 (Digital Data Acquisition Tool) 는 원격 제어 (Remote Control) 도 지원하므로 별도의 컴퓨터에서 작동할 수 있습니다. 컴퓨터를 사용하여 현미경을 제어하고, 이미지를 캡처하고, 분석하고, 설정을 조정할 수 있습니다. HITACHI S 3400 N은 안전하고 인체 공학적 이미징 환경을 제공하도록 설계되었습니다. 현미경은 외부 소스로부터의 간섭을 줄이고 광학 자산을 보호하는 전자기 차폐 케이스 (electromagnetic shielding casing) 로 둘러싸여 있으며, 진동을 약화시키고 외부 충격으로부터 기계를 보호하는 벌집 (honeycomb) 과 같은 무늬 캐비닛이 있습니다. LED 조명 모델은 일관된 조명을 제공하며 광학 오류를 제거하는 데 도움이됩니다. 컨트롤 패널은 작동하기 쉽고, 사용자에게 명확한 피드백 (feedback) 을 제공하며, 장비에는 비상 정지 (Emergency Stop) 스위치가 장착되어 있어 안전을 보장합니다. HITACHI의 S-3400 N 스캐닝 전자 현미경은 고해상도 이미징 (HITACHI) 및 소음 성능에 대한 뛰어난 신호를 제공 할 수있는 다용도, 신뢰할 수있는 기기입니다. 첨단 이미징 시스템, EDS (Eds and Digital Data Acquisition) 기능, 직관적이고 인체 공학적 (ergonomic) 설계로 인해 이미지 기술의 경계를 넓히려는 연구자와 엔지니어들에게 탁월한 선택이 가능합니다.