판매용 중고 HITACHI S-3400N #293763066

HITACHI S-3400N은 고급 연구를 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. HITACHI S-3400 N 은 고급 이미징 기능과 고해상도 이미징 기능을 통해 nanoscale 수준의 객체를 볼 수 있습니다. SEM은 새로 설계된 전자 열을 특징으로하여 이미지 품질을 향상시킵니다. 이 열에는 나노 스케일 레벨 (nanoscale level) 에서 오브젝트를 볼 때 더 깊은 초점 (focus) 을 제공하기 위해 확장 된 필드 깊이를 생성하는 오브젝티브 렌즈 (objective lens) 가 내장되어 있습니다. 이 기둥은 또한 새로운 3 단계 자기 진공 챔버 (magnetic vacuum chamber) 를 지원하여 사용 중에 기둥과 샘플 챔버가 손상되지 않도록 보장합니다. S 3400 N 은 최대 50 억 픽셀 (pixel) 의 해상도로 이미지를 캡처하여 그 어느 때보다 더 상세한 이미징을 가능하게 합니다. SEM 의 해상도 는 0.1 "나노미터 '인데, 이것 은 가장 작은 물체 까지도 눈 에 보이게 한다. 강력한 확대/축소 범위를 통해 SEM 은 낮은 배율과 높은 배율로 화질을 최적화할 수 있습니다. 또한 S-3400 N 은 다양한 자동 제어 기능을 제공하여 사용하기 쉽습니다. SEM 사용자 인터페이스는 사용자에게 친숙한 인터페이스로, 연구원에게 빠르고 정확하게 설정을 조정하는 기능을 제공합니다. 또한, SEM은 다양한 액세서리와 호환되므로 연구원이 SEM 을 필요에 따라 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 S-3400N 은 고급 이미징 기능을 통해 시장에서 가장 강력한 SEM 중 하나입니다. BSE 검출기와 SE 검출기를 모두 갖추고 있으며, 연구자들은 밝고 어두운 물체를 모두 캡처 할 수 있습니다. 또한 SEM은 다양한 카메라와 렌즈를 지원하므로 연구원이 광각 (wide-angle) 뷰에서 초고해상도 (ultra-high-resolution) 뷰에 이르기까지 모든 것을 캡처할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S 3400 N 은 고급 이미징 기능, 사용자 친화적 제어 기능, 다양한 호환 액세서리 (compatible accessory) 를 통해 강력한 SEM 을 찾는 연구원들에게 탁월한 선택입니다. HITACHI S-3400N은 탁월한 해상도와 이미징 품질로 연구원들이 나노 스케일 (nanoscale) 세계에 대한 통찰력을 얻도록 도와줍니다.