판매용 중고 HITACHI S-3400N #293661076

HITACHI S-3400N SEM (Scanning Electron Microscope) 은 고급 과학 및 산업 연구 및 분석을 위해 설계된 고성능 기기입니다. 그것은 재료 과학, 공정 제어, 생의학, 반도체 연구 등 다양한 분야에서 운영하기위한 것입니다. HITACHI S-3400 N 은 최고의 성능을 손쉽게 사용할 수 있도록 설계되었습니다. 반자동 (Semi-automated) 기능은 샘플 준비 및 분석 프로세스에 필요한 시간과 노력을 줄이기 위해 통합된 반면, 지속적인 측정 기능은 결과의 정확성과 반복성을 보장합니다. S 3400 N은 필드 방출 음극, 가속 전압 0 ~ 30kV, 저진공 및 저소음 이미징을 허용하는 호출 탐지기 (arcing detector) 로 구성된 스캐닝 전자 열을 사용합니다. 이 구성 요소로, 장비는 5 만 X 배율과 30 kV 가속 전압에서 1.2 nm 해상도를 달성 할 수 있습니다. S-3400N의 이미징은 EDX (Energy Dispersive X-Ray) 분석 시스템을 포함시켜 가속화됩니다. 이 EDX 분석 단위 (EDX analysis unit) 는 샘플 내에서 발견 된 요소를 정량적으로 측정하여 연구 중인 재료의 구성에 대한보다 포괄적 인 그림을 가능하게합니다. HITACHI S 3400 N은 또한 RQ (Resistor Quantifiner) 를 사용하여 표본의 모양과 구조를 평가하는 데 사용될 수 있습니다. RQ는 몇 가지 다른 디지털 알고리즘과 다크 필드 이미징 (dark field imaging) 을 결합하여 표면 릴리프 (surface relief), 피쳐 크기 및 모양 및 기타 매개변수를 최소한의 노력으로 정량적으로 분석 할 수 있습니다. S-3400 N 운영자의 안전을 보장하기 위해, 기계는 여러 안전 기능을 갖추고 있습니다. 이러한 기능에는 사용자가 활성화 한 9mm 두께의 Lead Alloy Beam Shield가 포함되어 있으며, 활성화 시 SEM 열 앞에 슬라이드되어 피부 손상을 일으킬 수있는 특이한 반사 확률 적 X-Ray 방사선이 최소화됩니다. 또한 SEM에는 저소음 분로 조절기 (low-noise shunt regulator) 와 이온 트랩 (ion trap) 도구가 장착되어 있어 방출 된 전자가 탈출하지 못하여 사용자에게 해를 끼칩니다. 또한 HITACHI S-3400N 은 다양한 소프트웨어와의 통합을 통해 이미지와 EDX 측정을 데이터 처리, 분석할 수 있습니다. 이러한 소프트웨어 통합을 통해 데이터를 다양한 시스템과 저장, 처리, 공유할 수 있습니다. HITACHI S-3400 N 의 성능을 최적화하기 위해 정기적인 유지 관리를 권장합니다. 여기에는 자산의 성능을 방해 할 수있는 이물질의 빌드 업을 제거하기위한 진공 구성 요소 (이미지 열 및 EDX 검출기) 의 주기적 클리닝 (periodic cleaning of the vacuum components (image column and EDX detector)) 이 포함됩니다. 요약하면, S 3400 N Scanning Electron Microscope는 고성능 이미징 기능, 뛰어난 에너지 분산 X-ray (EDX) 분석 기능을 제공하며 수많은 안전 기능을 통합합니다. 사용이 간편한 자동 기능과 결합된 S-3400N 은 사용자의 효율성을 향상시켜 연구 결과를 최적의 처리할 수 있게 해 줍니다 (영문).