판매용 중고 HITACHI S-3400N #293606248

HITACHI S-3400N SEM (Scanning Electron Microscope) 은 샘플의 마이크로 또는 나노 스케일 구조를 이미징하는 데 사용되는 인기있는 기기입니다. 현미경은 전자 빔 (electron beam) 을 사용하여 샘플을 스캔하고 표면의 세부 사항을 이미지화합니다. 이 현미경은 낮은 진공계이며 2 차 전자, 백스캐팅 전자 및 X- 레이 (X-ray) 와 같은 다양한 모드에서 샘플을 이미징 할 수 있습니다. HITACHI S-3400 N은 2 차 전자 모드에서 1.3nm, 역산 전자 모드에서 0.2nm의 해상도를 갖습니다. 영상을 할 수있는 시야는 20mm × 20mm이며 달성 가능한 최대 확대량은 2 차 전자 모드에서 40,000 배, 역산 전자 모드에서 400,000 배입니다. 전자는 3.2% 의 에너지 확산으로 10kV의 에너지로 가속됩니다. S 3400 N 은 완전 자동화된 시스템으로, 스테이지 (stage) 와 콘덴서 렌즈 (condenser lens) 를 빠르고 쉽게 조정할 수 있으며, 해상도, 명암비, 밝기의 영역별 이미징 및 제어가 가능합니다. 이 장비는 다양한 이미징 모드를 쉽게 전환할 수 있는 유연성을 가지고 있습니다. S-3400 N은 충전 및 충전되지 않은 2 차 전자 탐지기, 자동 낙인 조정 및 비디오 디스플레이 및 녹화와 같은 확장 기능을 제공합니다. EDS 검출기 (옵션) 는 EDS (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) 를 사용하여 이미지 샘플에 대한 기능을 추가합니다. S-3400N 의 탁월한 성능은 사용이 간편한 인터페이스로 더욱 향상되어 여러 검색 (scan) 모드를 빠르고 쉽게 실행할 수 있습니다. 사용자에게 친숙한 소프트웨어 패키지는 샘플 메모리, 스크립팅, 검색 기능, 기타 다양한 사용자 정의 옵션 등 다양한 편리한 기능을 제공합니다. 결론적으로, HITACHI S 3400 N (HITACHI S 3400 N) 은 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 에 적합한 선택으로, 높은 해상도와 최대 배율로 다양한 모드에서 다양한 샘플을 이미징할 수 있습니다. 고급 기능, 사용 편이성, 뛰어난 이미징 성능을 통해 모든 실험실 환경에 이상적인 선택이 됩니다.