판매용 중고 HITACHI S-3400N Type II #293799289

ID: 293799289
Scanning Electron Microscope (SEM) Magnification range: 5x to 300000x Resolution: Type: SED Size: 3.0 nm Power supply: 30 kV Type: BSED Size: 4.0 nm Variable pressure Power supply: 30 kV Chamber and stage: Specimen size: up to 200 mm X Traverse: 80 mm (Type I), 100 mm (Type II) Y Traverse: 40 mm (Type I), 50 mm (Type II) Z Traverse: 5 to 35 mm (Type I), 5 to 65 mm (Type II) Rotation: 360° Tilt range: -20° to +90° Sample height: 40 mm (Type I), 85 mm (Type II) Manual motorization 5-Axis Detectors: SE Detector: everhart-thornley BSE Detector: five-segment solid-state Electron source: pre-centered tungsten hairpin Accelerating voltage: 300 V to 30 kV Vacuum system: Turbomolecular pump: 210 liter/sec Rotary pump: 162 l/min Variable pressure range: 6-270 Pa Chamber pump down time: ~90 Seconds Automatic functions: Brightness/Contrast Control (ABCC) Focus Control (AFC) Stigmator and Focus control (ASF) Filament Saturation (AFS) Beam Alignment (ABA) Beam Setting (ABS) Objective Aperture Alignment (AAA) Auto beam blanking Display and imaging: LCD Monitor, 19" Signal mixing (BSE, SE, ESED) Display mode: Standard, Full screen, Real-Time dual image Scan mode: TV Rate, Fast scan, Slow scan, Photo scan, Reduced area scan Image saving and processing: Pixel resolutions: 640 x 480 mm, 1280 x 960 mm, 2560 x 1920 mm, 5120 x 3840 mm Frame integration: 2 to 1024 Pseudo color Digital zoom Contrast/brightness Cropping Resizing Gamma control Edge enhancement Measurement and annotation: Text Graphics Data edger 3D Birds-eye view Operator assist: Stage memory (Type II): up to 200 positions Image navigator 3D Maintenance videos Magnification presets Power: Auto transformer: 100–220 V, Single phase, 2 kVA Rapid start: 6 min Anti-vibration system.
HITACHI S-3400N Type II는 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 중대형 샘플의 고해상도 이미징 및 분석을 제공하도록 설계되었습니다. 금속, 반도체 및 절연체와 같은 재료의 분석에 우수합니다. 이 주사 전자 현미경은 실패 분석, 지형 이미징, 현장 방출 관찰, 표면 특성 분석, 3D 시각화 등 다양한 응용 분야에 사용될 수 있습니다. S-3400N 타입 II (S-3400N Type II) 에는 높은 수준의 밝기와 해상도를 달성 할 수있는 필드 방출 소스를 포함하는 스캐닝 전자 열이 있습니다. SEM의 전체 확대 범위는 15X ~ 1,000,000X이며 가속 전압 범위는 0.1V ~ 30kV입니다. 이 현미경에는 배타적인 "EcoView" 스캔 장비가 장착되어 있어 매번 이미지 품질을 극대화할 수 있습니다. 또한 SEM 은 "PowerView (PowerView)" 이미지 정렬 기능을 제공하여 사용자가 뷰 필드를 쉽게 재배치하여 최적의 이미지를 얻을 수 있도록 합니다. HITACHI S-3400N Type II는 자동 샘플 스테이지 이동 시스템과 같은 고급 기능으로 구성됩니다. 이를 통해 샘플의 x-y-z 방향과 기울기 위치를 정확하게 제어할 수 있습니다. 현미경의 표본 적재 장치는 조정 가능한 온도 (-180 ° C ~ + 200 ° C) 의 샘플을 안전하게 보유 할 수 있습니다. 또한, 진공 기계는 펌핑 시간을 연장하고 1 × 10\u2074 Torr의 높은 진공 수준을 달성 할 수 있으며, 뛰어난 이미징 조건을 제공합니다. S-3400N Type II는 실시간 이미지를 캡처 및 검토하기 위해 개발 된 독특한 "Live Imaging" 기술을 사용합니다. 이 기술을 통해 사용자는 기존의 SEM 스캔보다 낮은 배율과 더 높은 스캔 속도 (scan speed) 로 표본을 스캔하여 분석 속도를 높일 수 있습니다. 이 주사 전자 현미경 은 또한 커다란 "샘플 '을 덮을 수 있는 극히 넓은 시야 를 제공 한다. HITACHI S-3400N Type II는 다양한 응용 분야에 이상적인 고해상도 스캐닝 전자 현미경입니다. 높은 밝기 방출 소스, 온도 조절 샘플 단계 (temper-controlled sample stage), 확장 된 펌핑 시간 진공 도구 (extended pumping time vacuum tool) 와 같은 고급 기능을 통해 뛰어난 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. "EcoView" 및 "PowerView" 스캐닝 시스템을 통합하여 이 SEM 은 다양한 시야와 탁월한 실시간 이미지 처리 기술을 제공합니다.
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