판매용 중고 HITACHI S-3200N #9208242

HITACHI S-3200N은 다양한 물질의 마이크로 및 나노 구조를 조사하기 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 내장형 스테이지 (stage-in stage) 와 고해상도 검출기를 갖춘 고급 디지털 스캐닝 (digital-scanning) 장비를 통합하여 높은 이미지 명암비, 향상된 이미지 해상도, 더욱 넓은 필드 심도를 제공합니다. HITACHI S 3200 N에는 자동 반복 가능한 샘플 마운트 및 스테이지 스캔을 위한 높은 처리량, 자동 스테이지 시스템이 포함되어 있습니다. 고대비 2 차 전자 영상 (SEI), 백스캐터 전자 영상 (BSEI) 및 전자 분산 분광법 또는 에너지 분산 분광법 (EDS) 을 포함한 분석 스캐닝을 포함한 다양한 고급 영상 기술을 현미경과 함께 사용할 수 있습니다. S-3200N을 사용하면 0.5 ~ 1,000,000x 배율의 다양한 오브젝티브 렌즈와 0 ~ 10mm 사이의 작업 거리를 가진 고해상도 이미지를 찍을 수 있습니다. S 3200 N의 렌즈 교정 단위는 이러한 이미지가 정확하고 정확한지 확인합니다. HITACHI S-3200N (HITACHI S-3200N) 에는 모든 검색 제어 기능이 포함되어 있어 필수 SEM 매개변수를 조정하여 이미지 입수를 최적화할 수 있습니다. 자동 교정 절차는 진공이 최적으로 작동하는지 확인하는 데 사용됩니다. 현미경에는 노이즈 억제 기계 (noise suppression machine) 와 동적 필터링 기술 (dynamic filtering technology) 이 있어 노이즈 간섭의 양을 줄입니다. HITACHI S 3200 N의 Stage Control Tool을 사용하면 x, y, z 축 단위의 반복 가능한 정밀도로 자동 탐색이 가능합니다. 스테이지에는 또한 x 축과 y 축의 정확한 샘플 배치와 서피스 이미징의 회전 샘플 포지셔닝 (rotational sample positioning) 을 허용하는 기울기 및 회전 (tilt and rotation) 기능이 있습니다. S-3200N은 또한 사용자 정의 영역 및 샘플에서 입자를 정확하게 셀 수있는 자동 카운트 (auto-count) 함수를 포함합니다. 이것은 샘플의 입자 분포를 분석하는 데 도움이되며, 입자 크기 분포와 다공성을 이해하는 데 도움이됩니다. S 3200 N은 하나의 샘플에서 여러 이미지를 자동으로 찍을 수 있습니다. 이 기능은 시간이 지남에 따라 서피스 변화를 모니터링하거나 샘플 서피스의 완전한 3D 이미지를 생성하는 데 사용할 수 있습니다. 즉, 이 기능을 사용하여 서피스 변경 내용을 모니터링할 수 있습니다. 이미지 처리, 분석 및 데이터/결과 공유를 위해 현미경을 PC에 연결할 수도 있습니다. HITACHI S-3200N (HITACHI S-3200N) 은 고성능 스캐닝 전자 현미경으로 설계되었으며, 다양한 재료와 샘플에서 고급 이미징 기능을 제공합니다. HITACHI S 3200 N은 단계적이고 자동화된 시스템을 내장하여, 정확한 나노 과학 연구에 이상적인 선택입니다.