판매용 중고 HITACHI S-3000N #9356366

HITACHI S-3000N은 다양한 표면의 상세 분석 및 이미징을 위해 설계된 초고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 모델에는 향상된 옵틱이 장착되어 있으며, 최대 2.2 nm 해상도를 제공하여 나노 스케일 (nanoscale) 이미징 및 분석에 이상적입니다. 이 모델에는 이미징 안정성 (Enhanced Imaging Stability) 과 반복성 (Repeatability) 이 가능한 초안정 (Ultra Stable) 전자총이 장착되어 있어 정확한 분석에 필요합니다. 이 기기는 렌즈 내 2 차 전자 검출기 (in-lens secondary electron detector) 를 제공하며, 이는 샘플 표면의 로컬 지형에 대한 정보를 제공 할 수 있습니다. 현미경에는 역산포 전자 탐지기 (backscattered electron detector) 가 장착되어 있는데, 이 표본의 원자 조성에 대한 정보를 제공 할 수 있습니다. 이 장치는 SEM 의 성능을 더욱 향상시키기 위해 작업 거리 제어 (working distance control) 를 자동화하여 주어진 샘플에 대해 최적의 확대 (optimum magnification) 를 얻을 수 있습니다. 또한, HITACHI S-3000 N에는 고감도 EDS 장비가 장착되어 있으며, 이는 샘플의 원소 분석을 높은 수준의 정확도로 제공 할 수 있습니다. 기기의 유연성을 높이기 위해, 다수의 가스 주입 챔버가 설치된다. 이를 통해 사용자는 시스템의 해상도를 높이거나 샘플의 충전을 방지하기 위해 저압 진공 (low-pressure vacuum) 또는 고압 (high pressure) 과 같은 다양한 가스 혼합물을 선택할 수 있습니다. 또한, 이 기기는 디지털 이미지 처리를 허용하는 이미지 분석 장치 (image analysis unit) 를 특징으로합니다. 이 기계는 이미지 (Image) 기능 해석을 돕기 위해 강력한 이미지 향상 및 분석 도구를 제공하도록 설계되었습니다. 마지막으로, S 3000 N의 작업 흐름은 레이아웃이 간단하고 효율적이도록 설계되었습니다. 이를 통해 사용자는 기기 (instrument) 를 빠르게 작동시키고 샘플을 단순화하며, 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다.