판매용 중고 HITACHI S-3000N #9312349

HITACHI S-3000N은 고체 샘플의 표면 및 근면 특징을 분석하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최대 300,000 배의 배율을 달성 할 수 있으므로 반도체 연구, 재료 과학, 실패 분석 (failure analysis) 과 같은 광범위한 응용 분야에 이상적입니다. 직경 80mm 크기의 표본 챔버를 사용하면 최대 70mm 높이의 샘플을 수용 할 수 있습니다. HITACHI S-3000 N은 독특한 수차 교정 초고 해상도 Schottky 전자 총 덕분에 고품질 이미지를 생성합니다. 또한 회전 가능하고 기울기 쉬운 단계를 통해 최적의 이미징을 위해 샘플을 빠르고 쉽게 포지셔닝할 수 있습니다 (영문). 또한, 수차 교정 필드 배출 열 및 고전압 전원 공급 장치 (High Voltage Power Supply) 는 높은 확대에서도 정밀한 빔 조작을 허용합니다. 결과적으로 이미지가 매우 세밀하고 정확해집니다. S 3000 N에는 다양한 고급 이미지 처리 및 분석 도구가 장착되어 있습니다. 여기에는 선/모양 분석, 지형 재구성, 입체 분석, 입자 크기 등 다양한 자동 측정이 포함됩니다. 사용자는 센서-믹스 프로세스를 사용하여 다양한 요소 분석을 수행 할 수도 있습니다. 또한, 지능형 이미징 알고리즘은 약간의 샘플 이동을 보완하여 사용자가 정확하고 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. S-3000N은 또한 인상적인 운영 및 안전 기능을 갖추고 있습니다. 통합 터치스크린 인터페이스 (touchscreen interface) 와 간단한 지문 제어 (fingertip control) 기능을 통해 사용자가 현미경을 효율적으로 작동하고 제어할 수 있습니다. S-3000 N 은 또한 밀봉된 진공 환경에서 작동하여 샘플의 성능 및 보호를 최적화합니다. 또한 안전 도어 스위치 (Safety Door Switch) 와 비상 정지 스위치 (Emergency Stop Switch) 와 같은 다양한 안전 기능이 있어 사용자가 실수로 전자빔에 노출되지 않도록 보호합니다. 전반적으로 HITACHI S 3000 N은 강력하고 뛰어난 스캐닝 전자 현미경입니다. 최신 설계, 엔지니어링, 기능을 갖추고 있으며, 뛰어난 화질, 정밀 제어, 고급 이미지 처리 기능을 제공합니다. 기본 연구에서 고장 (failure) 분석에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 이상적인 툴입니다.