판매용 중고 HITACHI S-3000N #9265140

HITACHI S-3000N은 SAM (Scanning Auger Microscopy) 및 EBSD (Electron Backscatter Diffraction) 와 같은 고급 스캐닝 전자 현미경 응용 프로그램을 통해 뛰어난 이미지 처리 기능을 제공하는 유명한 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 강력한 장치는 특히 엄청난 이미징 해상도 (Imaging Resolution) 기능과 최첨단 전자 탐지기 (Electron Detector) 기술을 제공하는 기능으로 유명합니다. HITACHI S-3000 N에는 나노 미터 스케일 세부 사항을 정확하게 캡처하는 고해상도 아카시마 TMA 형 전자 열이 있습니다. 이 모델은 0.2 nm의 동적 하한과 최대 30 kV의 초고압 작동 범위로 설계되었습니다. 이 설정은 표본의 형태 학적, 조성 적 이해에 관한 뛰어난 분석 능력을 허용합니다. S 3000 N에는 고정밀 이미징을위한 FEG (Field Emission Gun) 와 원치 않는 신호의 배경을 낮추기 위해 High Vacuum 장비가 제공됩니다. 이 모델은 또한 우수한 에너지 분산 X 선 분석 기능과 2 차 전자 영상을 제공하여 표본 평가를 개선합니다. S-3000 N 은 또한 자동화된 스테이지 운영 시스템 (Stage Operation System) 과 다양한 인터페이스 (Function Interface) 를 갖추고 있어 사용이 간편합니다. HITACHI S 3000 N은 뛰어난 화면 (FOV) 및 빔 블랭킹 솔루션을 통해 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 이미징 솔루션에는 멀티 빔 이미징, 단색 이미징 및 듀얼 빔이 포함됩니다. S-3000N은 이미지 회전, 확대 등의 고급 이미지 처리 기능도 제공합니다. HITACHI S-3000N 은 HITACHI S-3000N 의 이점을 극대화하기 위해 이미지 구입, 캡처 및 분석을 위한 이미지 처리 장치 (옵션) 소프트웨어 패키지를 제공합니다. 이 패키지에는 슬라이싱 (slicing), 회전 (rotation) 과 같은 고급 3D 기능이 있으며 보다 효율적인 데이터 관리 및 분석이 가능합니다. 결론적으로, HITACHI S-3000 N은 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 어플리케이션을 통해 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 첨단 전자 탐지기 기술, 자동 무대 작동기, 시야와 빔 블랭킹 (beam blanking) 솔루션 기능, 이미지 도구 소프트웨어 (옵션) 를 통해 연구자와 기술자 모두에게 탁월한 선택이 가능합니다.