판매용 중고 HITACHI S-3000N #9243774

HITACHI S-3000N은 다양한 샘플의 고해상도 이미징 및 표면 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 그것은 2 차 전자, 역산포 전자, X- 선 신호 및 광학 신호를 사용하여 높은 배율로 표본 표면을 관찰합니다. SEM은 정확한 샘플 방향 및 관찰을 위해 높은 진공 기둥으로 제작되었습니다. 작동 거리는 최대 285 밀리미터 (285 mm) 이며 직경이 최대 100mm 인 표본 표본을 허용합니다. 현미경은 1.5 nm의 해상도에 도달 할 수있는 열 냉각 E-gun 기술을 사용합니다. 이 기술은 고해상도 이미지를 캡처할 수 있으며, 이미징 영역을 극대화할 수 있습니다. HITACHI S-3000 N은 성능을 더욱 향상시키는 독보적인 검출기 설계를 갖추고 있습니다. 다중 채널 검출기는 큰 샘플을 처리 할 수 있으며 "AGR (automatic gain regulation)" 모드가 장착되어 있습니다. 이 고급 제어 시스템 (Advanced Control System) 은 표본 관찰 조건에 관계없이 최적의 이미지 품질을 유지하도록 설계되었습니다. S 3000 N에는 샘플 로드 및 정렬이 용이한 ASA (Automated Sample Alignment System) 도 있습니다. 또한, 항상 전자를 모니터링하기 위해 열 내 디플렉션 렌즈 (DFL) 가 장착되어 있습니다. 이를 통해 최적의 샘플 분석 및 표면 이미징이 가능합니다. S-3000 N은 또한 기존, TEED, 디지털 이미징, 스팟 분석 및 스캔을 포함한 다양한 이미징 모드로 제작되었습니다. 또한 디지털 이미지 처리 시스템을 통해 TEM 이미징에 이상적입니다. 전반적으로, S-3000N은 강력하고 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 비교할 수없는 정밀도로 다양한 샘플을 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 첨단 기능 및 기술로 인해 표면 구조, 3D 이미징 및 샘플 분석 (sample analysis) 에 이상적인 선택이됩니다.