판매용 중고 HITACHI S-3000N #9226013

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ID: 9226013
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDS Included.
HITACHI S-3000N은 샘플의 고해상도 이미지를 생성 할 수있는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM에는 대형 전장 방출 고휘도 전자총과 초정밀 위치 장비가 장착되어 있습니다. 이 총은 정밀한 에너지 제어 및 최대 160 muA의 높은 전류를 가진 전자를 생산할 수있다. 전자 총은 또한 전자 스크리닝 조건을 조정하는 통합 가스 시스템 (gas system) 과 최적의 성능을 위해 자동 정렬 장치 (auto alignment unit) 를 갖추고 있습니다. HITACHI S-3000 N은 최대 20 nm 크기의 부드러운 표면을 이미징 할 수 있으며, 유기 분자의 존재를 감지 할 수 있습니다. S 3000 N 에 포함된 스캔 제어기 (scan control machine) 는 사용자가 스캔 매개변수를 완벽하게 제어할 수 있도록 합니다. 기울기 (tilt) 및 래스터 단계 (raster stage) 를 포함하여 빠른 스캔 단계뿐만 아니라 기울어지고 구부러진 서피스를 이미지에 적용할 수 있습니다. 또한 이 툴은 고속 (High Speed) 및 확장 스캔 (Extended Scan) 을 비롯한 여러 검색 모드를 제공하여 짧은 시간 동안 정확한 스캐닝을 수행할 수 있습니다. 에셋은 초당 400 개의 이미징 프레임이 가능하며, 탁월한 데이터 전송률, 뛰어난 이미지 해상도 및 형상을 제공합니다. HITACHI S 3000 N에는 다양한 샘플을 이미징하는 다양한 검출기가 장착되어 있습니다. 이러한 검출기는 2 차 전자 검출기, 역 산란 전자 검출기 및 Cathodoluminescence 검출기를 포함한다. 이러한 검출기는 나노 구조의 정확한 분석과 더 나은 시청을 위해 재구성 3D 이미징 및 회절 패턴을 제공하는 PC 작동 이미지 처리 모델과 함께 사용됩니다. S-3000 N 은 정확하고 안전한 작동을 보장하도록 설계된 다양한 기능을 제공합니다. 여기에는 오염 위험을 제거하기위한 Eu 밀봉 진공실 (EU-sealed vacuum chamber) 과 지속적인 진공 압력 유지를위한 고급 진공 장비가 포함됩니다. 또한 S-3000N은 고성능/안정성을 보장하는 첨단 냉각 시스템과 19 인치 LCD 모니터와 다국어 GUI를 갖춘 사용자 친화적 운영자 환경을 갖추고 있습니다. 전반적으로 HITACHI S-3000N 은 강력하고, 안정적이며, 사용자 친화적인 SEM 으로, 뛰어난 정확도로 다양한 스캔 애플리케이션을 수행할 수 있습니다. 다양한 고유한 기능을 통해 고품질 이미징 (Image Performance) 을 필요로 하는 고객에게 이상적인 선택이 가능합니다.
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