판매용 중고 HITACHI S-3000N #9208239
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ID: 9208239
빈티지: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM)
Option: W4010 Water chiller
Magnification: 15x to 300000x (143 steps)
Resolution:
Secondary electron image resolution:
3.0 nm (Vacc 25 kV, high vacuum mode)
Back-scattered electron image resolution:
4.5 nm (Vacc 25 kV, variable pressure mode)
Voltage: 0.3 - 30 kV
Specimen size: 150 mm Diameter maximum
View monitor: 17" LCD Type
Operation: Mouse and sub control pad
PC: PC/AT Compatible
Operating system: Windows NT
Electron gun:
W (Tungsten)
Hairpin type
Stages:
X-Axis: 0 - 100 mm
Y-Axis: 0 - 50 mm
Z-Axis: 5 - 40 mm
Tilt: -5 ~ +60°
Rotation: 360° (Non step)
Vacuum pumps:
(2) Rotary pumps
Diffusion pump
(2) HITACHI CuteVac VR16L-K Rotary pumps
Control system:
TV Fast mode
TV Flow mode
1-4 Step slow mode
Reduce mode
Power / Utility:
PCW: 1-1.5 liter/min
Pressure: 0.5-1 kg/cm³
Pressure dry air (PDA): 5 kg/cm³
AC 100 V, Single phase, 5 kVA within GND
2000 vintage.
HITACHI S-3000N은 고급 재료 연구 및 분석에 사용하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현미경에는 고해상도 평판 광학 장비가 장착되어 있어, 마이크로미터 이하의 해상도를 제공합니다. 또한 열 내 에너지 필터를 사용하여 이미징 매개변수를 미세 조정할 수 있습니다. 이 장치에는 0.01 볼트의 정확도를 가진 고전압 (High Voltage) 전원 공급 장치가 있어 정확하고 정확한 이미징이 가능합니다. HITACHI S-3000 N은 표준 및 가변 압력 샘플 보기를 모두 수행할 수 있습니다. 고감도 2 차 전자 영상 및 백 스캐터 전자는 샘플 표면에서 다양한 특징을 관찰 할 수있다. 또한, 이 장치는 다른 이미징 시스템과 동기화되어 상관 연구를 수행 할 수 있습니다. 이 장치에는 X-ray 분석기 (X-ray analyzer) 가 장착되어 있으며 자동화된 최적화 알고리즘을 통해 결과를 분석 할 수 있습니다. 이를 통해 최고 품질의 SEM 이미징 및 샘플 분석을 수행할 수 있습니다. 또한, 현미경에는 자동 스테이지 제어 시스템 (Automatic Stage Control System) 과 자동 에지 감지 기능이 포함되어 일관되고 반복 가능한 이미징이 가능합니다. 이 장치에는 자동 매개변수 최적화 프로세스 (automated parameter optimization process) 가 포함되어 있으므로 이미징 매개변수를 미세 조정할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 입자 크기 분석 소프트웨어 (particle size analysis software) 와 통합되어 샘플의 기능을 빠르고 효율적으로 측정 및 분석 할 수 있습니다. 전반적으로 S 3000 N은 재료 연구 및 분석을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 최첨단 광학 및 에너지 필터링 머신, 자동 매개 변수 최적화, 정확한 X 선 분석은이 장치를 다양한 샘플을 연구하기위한 강력한 도구로 만들었습니다.
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