판매용 중고 HITACHI S-3000N #293670616

HITACHI S-3000N (HITACHI S-3000N) 은 최신 기술과 다양한 기능으로 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 완벽하게 자동화된 샘플 분석을 용이하게 합니다. 원자 해상도로 표본을 이미징 및 측정 할 수 있습니다. HITACHI S-3000 N 은 높은 진공 환경을 활용하여 가장 작은 샘플까지 심층적으로 조사할 수 있습니다. 냉장 방출 총 (FEG) 전자총은 매우 정밀한 빔 형태를 가지며, 2nm 수준의 깊이 해상도로 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한 분석 및 이미징 기능을 결합한 자동화된 에너지 슈퍼 트랜스퍼 (SuperTransfer) 이미지 시스템도 함께 제공됩니다. 강력한 전자 총 외에도 S 3000 N은 샘플 조사를 위해 광범위한 분석 기능을 제공합니다. 서피스 피쳐를 보다 정확하고 자세히 측정하기 위해 서피스 및 경사각 매핑이 포함된 BF/DF 탐지 옵션 (옵션) 이 제공됩니다. 박막, 합금, 절연체, 세라믹 및 폴리머에 대한 분석도 수행 할 수 있습니다. HITACHI S 3000 N에는 자동 표본 분석을 위해 고성능 카메라 시스템, X-ray EDX 및 자동 로더가 장착되어 있습니다. 자동 샘플 사이징 기능이 내장되어 있어 설정 시간이 단축되고 성능이 향상됩니다. X-ray EDX 시스템은 표본 내에 존재하는 요소를 분석 할 수 있습니다. S-3000N에는 다양한 사용자 친화적 기능도 제공됩니다. 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 는 사용자가 기기를 빠르고 쉽게 탐색하고 제어할 수 있도록 도와줍니다. 1024 x768 픽셀 (1024 x768 픽셀) 의 고해상도를 제공하는 디스플레이 모니터는 뛰어난 화질을 제공하여 신속하게 결과를 평가합니다. S-3000 N은 샘플 조사를위한 강력한 이미징 및 분석 기능을 제공하는 뛰어난 스캐닝 전자 현미경입니다. 첨단 전자 건 (Advanced Electron Gun) 및 다중 탐지 (Multiple Detection) 옵션을 통해 다양한 표본을 분석하는 데 이상적이며, 사용자 친화적 인 기능을 사용하면 보다 쉽고 효율적인 작동 및 샘플 분석을 수행할 수 있습니다.