판매용 중고 HITACHI S-3000N #293649569

HITACHI S-3000N SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 재료에서 미세 구조와 원소 컨텐츠의 상세한 이미징을 제공하도록 설계된 고성능 도구입니다. 이 모델은 25,000 x 배율에서 105mm2 시야의 강력한 분석 기능과 1kV ~ 30kV의 작동 전압 범위를 제공합니다. 현미경의 넓은 현장 깊이 (depth of field) 와 우수한 깊이 해상도는 복잡한 기능을 가진 샘플의 빠른 검사 및 이미징에 이상적입니다. 이 장치는 또한 고해상도 이미지와 화학 매핑 및 원소 분석을위한 에너지 분산 X-Ray 분광법 (EDS) 을 결합한 고급 하이브리드 분석 시스템을 갖추고 있습니다. HITACHI S-3000 N 은 소형의 설계, 고속 스캔 컨트롤러, 고급 이미지 통합 알고리즘을 통해 신속한 정보 수집을 보장합니다. 저소음 전자 장치 및 혁신적인 전자 설계로 고속 SEM 이미징이 가능합니다. 기기와 함께 제공되는 컴퓨팅 소프트웨어의 범위는 입자 스포팅 (particle spotting), 자동 피쳐 식별 (automatic feature identification) 등 다양한 기능을 지원합니다. 이 장치에는 환경 챔버, 전동식 스테이지, 고속 스테이지 정렬 카메라, 고급 3D 단층 촬영 (advanced 3D tomography) 등 다양한 통합 옵션이 제공됩니다. 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 기능에는 펠티어 냉각 및 3 개의 탐지기 포탑이 포함됩니다. 이를 통해 사용자는 해당 샘플에 대한 최적 (optimum) 방법을 선택할 수 있으며, 이를 통해 요소와 해당 분포를 보다 정확하게 매핑할 수 있습니다. S 3000 N 의 견고한 설계 및 구축은 실험실 환경을 위한 안정적인 도구입니다. 그것은 3 중 필라멘트 전자 총과 10 위치 총 전류 배열에 의해 구동되는 광범위한 작동 온도와 전압을 가지고 있습니다. 이 장치는 에너지 소비량이 적고 환경에 미치는 영향이 최소화되도록 ENERGY STAR 인증을 받았습니다. 전반적으로 S-3000 N Scanning Electron Microscope는 광범위한 재료 분석 애플리케이션에 최적의 솔루션을 제공합니다. 유연성, 신뢰성 있는 성능으로 인해 상세한 이미지와 요소 매핑 (elemental mapping) 이 필요한 실험실에는 탁월한 선택이 가능합니다.