판매용 중고 HITACHI S-3000N #293645405

ID: 293645405
빈티지: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM) 2012 vintage.
HITACHI S-3000N은 다양한 과학 및 산업 응용을 위해 설계된 고성능, 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 SEM (Model of SEM) 은 다양한 기능을 통합하여 시장에서 가장 인기있는 스캐닝 전자 현미경 장비 중 하나입니다. HITACHI S-3000 N 의 소스 전압은 최대 30 kV 에 도달하여 고해상도의 선명한 이미지를 만들 수 있습니다. 반도체 (semi-conductor) 탐지기를 사용하면 데이터 획득이 빨라지고 신호 대 잡음비가 향상되어 신호 처리의 정확도가 높아집니다. 특허를받은 CFEG (Cold Field Emission Gun) 기술은 더 큰 전자 선명도와 향상된 신호 대 잡음비를 보장하는 데 도움이됩니다. 높은 전자 총 안정성을 통해 종횡비가 높은 샘플의 고해상도 이미징 (Imaging) 을 허용합니다. S 3000 N에는 다양한 고급 이미징 기능도 포함되어 있습니다. 렌즈 내 검출기는 이미징 품질을 향상시키는 반면, 고성능 검출기는 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratio) 를 최대화하는 데 도움이됩니다. 진공 시스템은 무시할 수없는 백 스캐터로 고성능 이미징을 지원합니다. 자동 서피스 분석 피쳐 (automated surface analysis feature) 를 사용하면 데이터 분석을 사용자정의하여 샘플의 서피스 피쳐를 추적하고 측정할 수 있습니다. 또한 S-3000N 은 사용자 친화적인 고급 소프트웨어 (Enhanced Software) 패키지를 제공하여 현미경 설정을 손쉽게 조정할 수 있습니다. 이 제품은 최적의 이미지 분석 및 조작을 위한 다양한 이미지 처리 툴을 제공하며, 샘플 보기가 간편한 일련의 디지털 카메라 (digital camera) 옵션을 제공합니다. 전반적으로, HITACHI S 3000 N은 고해상도 이미징 및 정확한 신호 처리가 가능한, 고급적이고 안정적인 스캐닝 전자 현미경입니다. 광범위한 기능을 통해 다양한 과학/산업 응용에 이상적인 툴이 될 수 있습니다 (영문).
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