판매용 중고 HITACHI S-3000H #9055558

HITACHI S-3000H
ID: 9055558
SEM.
HITACHI S-3000H는 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 강력한 리서치 툴은 여러 가지 강력한 기능을 제공하여, 사용자가 뛰어난 품질로 나노 (nano) 세계를 탐험 할 수 있습니다. HITACHI S 3000 H는 가속 전압 범위 1 ~ 30 KeV (킬로 전자 볼트) 및 최대 배율 500,000x 이상으로 작동합니다. 이를 통해 사용자는 나노 세계를 놀라운 세부 사항으로 탐구 할 수 있습니다. S-3000H는 'Ultra E-Beam Oscillation' 기술로 구동되며, 고해상도의 해상도로 매우 상세한 이미징을 제공합니다. 빔 및 이미지 기반 분석을 위해 2 개의 검출기 모드 선택 모듈이 장착되어 있습니다. 첫 번째 모듈은 고해상도 2 차 전자 검출기 (HI-SCAN이라고 함) 이고 두 번째 모듈은 이미지 강화 어셈블리 (EVIC라고 함) 입니다. 이러한 검출기를 통해 사용자는 샘플을 자세히 분석 할 수 있습니다. S 3000 H에는 STEM (Scanning Transmission Electron Microscope) 모드도 장착되어 있습니다. STEM 모드는 표준 SEM 이미징으로 분석하기 어려운 손상된 샘플을 분석하는 데 특히 유용합니다. STEM 모드는 정확한 포지셔닝을 통해 고해상도 이미징을 제공합니다. 또한 HITACHI S-3000H는 강력한 XRF (X-Ray Fluorescence) 검출기를 자랑합니다. 이 검출기를 통해 과학자들은 샘플의 요소를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 강력한 도구를 사용하여 사용자는 분자 수준의 샘플을 분석 할 수 있습니다. HITACHI S 3000 H에는 자동 초점 (auto-focus) 기능이 장착되어 있어 샘플의 초점이 자동으로 조정됩니다. 즉, 샘플을 샘플에서 샘플로 배치하는 작업을 빠르고 효율적으로 조정할 수 있습니다. 마지막으로 S-3000H는 고급 샘플 준비 시설도 가능합니다. 예를 들어, 사용자는 Nano Bake 기술을 사용하여 분석을 위해 샘플을 준비 할 수 있습니다. 이 강력한 기술은 샘플의 충전 정도 (degree of charge build-up) 를 낮추기 위해 사용될 수 있으며, 보다 깨끗하고 정확한 분석을 가능하게합니다. S 3000 H는 엄청나게 강력한 주사 전자 현미경입니다. 많은 특징과 기능으로, 연구원들에게 나노 (nano) 세계를 매우 자세히 탐험 할 수있는 능력을 제공합니다. 나노 세계를 연구하는 과학자와 연구자들을위한 강력한 도구입니다.
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