판매용 중고 HITACHI S-3000 #293671428

HITACHI S-3000
ID: 293671428
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3000은 다양한 샘플의 미세 구조 및 지형 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 매우 까다로운 이미징 어플리케이션을 위한 다양한 추가 모드와 고해상도 (고해상도) 성능을 제공합니다. 이 고급 SEM (Advanced SEM) 은 다양한 가스와 압력에서 작동하기위한 환경 열을 특징으로하며, 주변 또는 초고진공 상태에서 표본의 고해상도 이미징을 제공합니다. 환경 열은 또한 다양한 광학 조건에서 깨지기 쉬운 샘플을 분석 할 수 있습니다. 새로운 S-3000 주사 전자 현미경 (SEM) 은 사용자 경험을 향상시키기 위해 혁신적인 디자인과 함께 향상된 해상도 및 성능을 제공합니다. 최대 해상도가 1.1nm 인 2 차 전자 검출기 (SE2) 를 사용하여 고해상도를 달성합니다. 전자 장치는 저소음 작동에 최적화되어 최고의 이미지 품질을 제공합니다. HITACHI S-3000에는 밝은 필드, 어두운 필드, 뒤로 흩어진 전자, 위상 대비 이미징 등 다양한 작동 모드가 제공됩니다. 최대 45mm (최대 45mm) 의 스캔 영역을 가지며, 가변 배율 조정 및 샘플 회전 (sample rotation) 이 가능하므로 광범위한 기능을 자세히 조사 할 수 있습니다. 측면 장착 오브젝티브 렌즈 (side mounted objective lens) 는 가까운 거리에서 표본 피쳐를 검사 할 때 더 큰 유연성을 제공합니다. 일반 CCD 실시간 이미징 시스템 외에도 S-3000에는 비 전도성 표본의 분석을위한 CCD (Digital Iris Charge-Coupled Device) 카메라 옵션도 포함되어 있습니다. 이 기능에는 비파괴적 이미징, 자동화된 디지털 이미지 스티그마, 고효율 안정화 제어 등의 고급 기능이 포함됩니다. HITACHI S-3000 은 다양한 스캐닝/분석 기능을 제공하여 다양한 애플리케이션에 적합한 솔루션입니다. 그것 은 모든 크기 의 표본 들 을 상세 히 조사 하는 데 도움 이 되도록, 생물학적 표본 들 에서 산업 "샘플 '에 이르기 까지, 광범위 한 표본 들 에 대한 다양 한" 이미징' 을 제공 한다. 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging), 극한의 환경연구 (Environmental Studies) 에 이르기까지 다양한 기능의 SEM 은 고객이 필요로 하는 다양한 기능과 성능을 제공합니다.
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