판매용 중고 HITACHI S-2700 #293748545

HITACHI S-2700은 다기능 고해상도 스캔 전자 현미경 (SEM) 으로, 표본의 고품질 이미지를 생성하도록 설계되었습니다. S-2700 (S-2700) 은 고에너지 전자 총과 다양한 검출기를 특징으로하며, 재료 분석, 반도체 분석, 표면 분석 등 다양한 응용 분야에서 물체 표면의 고해상도 이미지를 형성 할 수 있습니다. HITACHI S-2700 (HITACHI S-2700) 은 전자의 빔을 생성하며, 전하를 띤 결합 장치 (CCD) 세트에 의해 검출되는 동안 샘플 표면을 가로 질러 스캔된다. "CCD '에 의해 검출 된 전자 의 양 은 그 물질 의 원자 번호 에 비례 하는 것 이며, 그 로 말미암아 다른 물질 을 신속 히 식별 할 수 있게 되고, 그 구조 를 구별 할 수 있게 된다. S-2700은 또한 샘플에서 에너지를 감지하고 측정하는 에너지 분산 X- 선 분광계 (EDS) 를 특징으로하여 자세한 원소 분석을 허용합니다. HITACHI S-2700 에는 방향 단계 (Orientation Stage) 와 보조 전자 탐지기 (Secondary Electron Detector) 가 모두 장착되어 있어 표본의 지형적 기능과 미세한 구조적 세부 사항을 모두 이미징할 수 있습니다. 높은 기울기 단계 (High tilt stage) 를 통해 사용자는 각도뿐만 아니라 표면에 도달하는 데 집중할 수 있습니다. 이러한 유연성을 통해 사용자는 샘플과 함께 정전기 상호 작용 (electrostatic interaction), 자기 상호 작용 (magnetic interaction) 과 같은 다양한 실험을 설정할 수 있습니다. S-2700 의 해상도는 1.2nm 로, 다양한 애플리케이션에 적합합니다. HITACHI S-2700 은 최고의 세부 사항 이미지 (최대 1.5um) 를 생성하며, 10nm 이하의 구조를 이미지로 만들 수 있습니다. 현미경은 또한 2000X에서 400000X에 이르는 다양한 배율을 특징으로합니다. 또한 S-2700은 밝기 조정, 명암비 조정, 색상 조정, 이미지 크기 조정 등 다양한 디지털 이미징 기능을 제공합니다. 이를 통해 HITACHI S-2700은 상세한 감각 분석이 필요한 어플리케이션에 이상적인 선택입니다. 전반적으로 S-2700 (S-2700) 은 다용도가 높고 표본표면에 대한 자세한 정보를 제공 할 수있는 고성능 스캔 전자 현미경입니다. HITACHI S-2700은 재료 분석, 반도체 분석, 생물학적 분석 등 다양한 응용 분야에 적합합니다. S-2700 은 다기능 시스템에서 뛰어난 이미징 성능을 원하는 사용자에게 탁월한 선택입니다.