판매용 중고 HITACHI S-2600N #293657550

HITACHI S-2600N은 높은 샘플 처리량 및 정밀 이미징을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 과 고급 측정 기술을 용이하게 하는 다양한 기능을 갖추고 있습니다. S-2600N은 FEG (Field Emission Gun) 전자 소스를 특징으로하며, 이는 최대 0.8nm의 뛰어난 해상도와 더 큰 샘플 안정성을 위해 높은 충전 안정성 회로를 제공합니다. 이 높은 해상도를 통해 사용자는 더 나은 기능을 이미지화하고 더 높은 품질의 결과를 얻을 수 있습니다. FEG는 또한 30kV에서 8kV까지 광범위한 가속 전압을 제공합니다. HITACHI S-2600N은 또한 기존 SEM보다 더 넓은 심도 (depth of field) 로 최대 0.36nm 해상도를 달성 할 수있는 Uperf (초자화-오버-퍼펙트 필드) 기능을 제공합니다. 이것은 S-2600N으로 연구 할 수있는 샘플의 범위를 확장하고 자세한 관찰을 더 쉽게 해줍니다. HITACHI S-2600N에는 고정밀 x-y 이동을 위해 Z-piezo 모터 스테이지가 장착되어 있습니다. 이를 통해 자동 샘플 준비 프로세스에 필수적인 빠른 포지셔닝 및 스테이지 몽타주 (stage-montage) 기능을 사용할 수 있습니다. 또한, Z-piezo 모터 스테이지는 최대 10nm의 정렬 및 동작 제어 정확도를 제공하여 매우 훌륭한 샘플 분석을 위해 정확한 샘플 포지셔닝을 허용합니다. S-2600N (S-2600N) 은 또한 새로 설계된 가스 탐지기 장비를 갖추고 있으며, 이는 주어진 샘플에서 방출 된 가스의 미세한 조성 변화를 감지 할 수 있습니다. 이 체계 를 사용 하여, 탄소, 산소, 질소 와 같은 원소 를 분석 할 수 있어서, 연구가 들 이 표본 조성 및 화학 반응 에 대해 더 잘 이해 할 수 있다. HITACHI S-2600N 은 또한 견고한 진공 장치 (vacuum unit) 로 설계되어, 샘플 오염을 최소화하고, 장기간 동적 진공 수준을 유지합니다. 이 기계는 다른 SEM 보다 작업 시간이 길어 샘플을 더 자세히 검토 할 수 있습니다. 전반적으로 S-2600N은 다양한 응용 및 연구 요구에 대한 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 해상도 (Resolution), 청결도 (Cleanliness) 및 작업 시간 연장 (Extended Working Time) 의 조합은 상세하고 정확한 이미징을 달성하려는 연구자들에게 이상적인 솔루션입니다.