판매용 중고 HITACHI S-2600 #9384729

HITACHI S-2600은 SEM (Advanced Scanning Electron Microscope) 으로 크기가 5nm ~ 50m에 이르는 다양한 샘플에 사용할 수 있습니다. 시료의 표면을 이미지화하기 위해 전자 빔 (electron beam) 을 사용하여 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 을 제공합니다. 현미경에는 원소 분석을위한 2 개의 에너지 분산 X- 선 검출기가 장착되어 있습니다. S-2600 은 에너지 필터링 장비로, 고에너지 전자의 강도를 줄이기 위해 1 차 빔을 분할할 수 있습니다. 이 시스템에는 최적의 해상도를 위한 열 내 에너지 필터도 있습니다. 그 결과, 현미경은 결정 구조 분석에 뛰어나고, 샘플의 작은 결함을 감지합니다. 현미경은 또한 2 차 전자 검출기를 특징으로하며, 이를 사용하여 이미지를 실시간으로 얻을 수 있습니다. 이 탐지기는 디지털 인터페이스로도 기능하여 현미경을 PC 또는 CCD 카메라와 쉽게 연결할 수 있습니다. HITACHI S-2600은 또한 현미경에서 샘플을 제거하지 않고 샘플을 분석하기위한 ex-situ 모드를 가지고 있습니다. 이 기능은 부식, 마모 및 기타 표면 변경을 분석하는 데 유용합니다. 또한 위상 대비 (Phase Contrast), 형상 대비 (Geometry Contrast), 지형 대비 (Togography Contrast) 등 다양한 대비 모드를 제공하여 수집할 수 있는 다양한 데이터를 증가시킵니다. 정확한 결과를 얻기 위해 S-2600에는 압력 조절 기계가있는 큰 진공 챔버가 있습니다. 한방 내부의 압력은 샘플의 요구에 따라 조정 될 수 있으며, 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 제공하고 열 유발 노이즈를 줄입니다. 마지막으로, HITACHI S-2600 은 난방, 냉각 등의 환경 기능을 지원하는 완전 자동화된 샘플 스테이지 툴을 제공합니다. 이 자산은 고온 및 극한 환경에서 샘플을 더 쉽게 분석할 수 있습니다. 다른 기능과 결합된 S-2600 은 상세한 표면 검사 및 원소 분석을 위한 탁월한 선택입니다.