판매용 중고 HITACHI S-2500 #9392990
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ID: 9392990
Scanning Electron Microscope (SEM)
Accelerating voltage: 0.5-30 kV
Resolution: 2.5 nm in high resolution mode
Maximum magnification: 200,000
Tungsten filament
(2) Condenser lenses
Electron detectors:
(2) Secondary electron (Scintillator-photomultiplier) detectors
Lower detector mounted below objective lens
Upper detector mounted above objective lens
Dynamic focus
Tilt correction
Gamma control
Split screen
Dual magnification
Automatic data display
Ion pump for electron gun
Oil diffusion pump for column
(4) Quadrant back scatter detectors
Atomic number resolution: 0.1 Z at Z=30
High bandwidth TV Operation
Low noise for slow scan mode.
HITACHI S-2500은 높은 배율로 광범위한 샘플을 관찰하는 데 사용되는 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. HITACHI S 2500은 CFEG (Cold Field Emission Gun) 열과 2 차 전자 (SE), 백스캐터 전자 (BSE) 및 인렌즈 검출기 (ILD) 2 차 전자 이미징과 같은 다양한 이미징 모드를 결합합니다. CFEG 냉장 방출 총은 장기적인 안정성과 밝기를 가지고 있으며, 매우 고해상도 이미지를 제공합니다. 소스에서 방출 된 전자는 자기 (magnetic) 및 정전기 (electrostatic) 렌즈에 의해 시스템을 집중하고 지향하며, 이를 수정하고 조정하여 원하는 배율을 달성한다. S-2500의 총은 최대 1500,000x의 배율을 달성 할 수 있습니다. S 2500 은 또한 멀티애퍼처 (multi-aperture) 검출기 시스템을 통해 샘플에서 정보를 빠르고 효율적으로 얻을 수 있습니다. 여기에는 기존의 백스캐터 전자 및 2 차 전자 검출기, 인 렌즈 검출기 및 고급 표면 조성 분석기의 조합이 포함됩니다. HITACHI S-2500 은 또한 내장형 에너지 필터를 갖추고 있는데, 이 필터는 산란을 제거하고 이미지의 대비를 개선하는 데 사용할 수 있습니다. HITACHI S 2500 은 모듈식 설계를 통해 고급 현미경의 구성 요소를 손쉽게 추가, 업그레이드할 수 있습니다. 디지털 컴퓨팅 시스템은 강력한 자동화를 추가하여 원격 작동을 허용합니다. 이것은 연구 실험실, 대학 및 산업을위한 훌륭한 선택입니다. S-2500 의 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 는 실험을 간편하게 설정하고 교육 시간을 단축해 줍니다. 결론적으로, S 2500 (S 2500) 은 강력한 주사 전자 현미경으로, 전통적인 광학 현미경이 허용하는 것을 넘어 광범위한 샘플을 연구하는 데 사용될 수 있습니다. 뛰어난 이미지 해상도 (image resolution) 를 제공하며, 자동화 기능을 통해 신뢰할 수 있는 현미경 이미징이 필요한 과학자와 기술자들에게 적합한 선택이 가능합니다. HITACHI S-2500 은 다른 SEM 이 부족한 많은 기능을 결합하여, 재료 과학 및 관련 산업의 귀중한 도구입니다.
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