판매용 중고 HITACHI S-2500 #9071216

HITACHI S-2500 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 해상도와 성능이 향상된 고성능 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미징 (high resolution imaging), 고급 렌즈 내 보조 전자 검출기 (in-lens secondary electron detector), 자동 스캔 컨트롤러 (automated scan controller) 와 같은 독특한 기능과 기능으로 설계되었습니다. HITACHI S 2500 은 독보적인 전자광학 설계를 통해 뛰어난 해상도를 제공하여 이미지를 선명하게 만듭니다. 내장 고성능 VPI-SEI (Variable Pressure Secondary Electron Imaging) 검출기를 통해 넓은 확대 범위에 대한 대비 제어를 갖춘 고해상도 이미지를 제공합니다. 렌즈 내 전자 분석기는 오거 전자 (Auger electron) 및 엑스선 (X-ray) 과 같은 다양한 에너지 의존성 신호를 감지하도록 설계되었습니다. 이 기능은 수평 (horizontal) 및 기울기 (tilting) 로터리 스캔을 수행하는 기능과 연계되어 사용자에게 향상된 이미징 기능을 제공합니다. 스캔 컨트롤러를 통합한 S-2500을 사용하면 검색 작업을 매우 자동화할 수 있습니다. 이 장비는 내부적으로 저장되며, 스캔 속도, 크기, 해상도 등 여러 검색 매개변수를 설정하고 저장할 수 있습니다. 컨트롤러 (Controller) 는 또한 높은 수준의 이미지 분석 소프트웨어 (image analysis software) 를 제공하며, 이미지 획득뿐만 아니라 획득한 데이터에 대한 데이터 및 통계 분석 (statistical analysis) 을 수행할 수 있습니다. 이 시스템에는 총 15 개의 검출기가 있으며 그 중 3 개는 고해상도 이미징 전용, 9 개는 LEMA (electron localized magnetic anlysis), 3 개는 LCEDS (in-lens electron energy spectra), 3 개는 X- 선 매핑을 위해 설계되었습니다. 이 다양한 탐지기 (detector) 는 사용자가 모든 유형의 샘플에 대해 광범위한 실험을 수행할 수 있도록 합니다. S 2500 은 다양한 이미징 모드 외에도 자동 샘플 정렬 (sample alignment) 및 기계적 단계 (mechanical stage) 옵션도 제공합니다. 또한 듀얼 레벨 홀더, 전동식 조작기, 퀵 마운트 홀더 (quick-mount holder) 와 같은 최신 샘플 홀더가 장착되어 있습니다. 또한 HITACHI S-2500 은 SEM 운영과 관련된 많은 복잡성을 없앨 수 있도록 사용자에게 더욱 유용한 자동 소프트웨어 (Automated Software) 옵션을 제공합니다. 이러한 옵션에는 자동 스캔 루틴, 보정 및 자동 샘플 정렬 장치가 포함됩니다. HITACHI S 2500은 거의 모든 유형의 샘플을 나노 카터 화하기위한 이상적인 도구입니다. 직관적이고 사용하기 쉬운 머신으로, 사용자 입력이 최소화되어 고해상도 이미지를 신속하게 제작할 수 있습니다. 또한, 자동화된 기능은 복잡한 샘플의 기능 획득을 촉진하는 한편, 최고 품질의 이미징 (imaging) 및 분석 (analysis) 기능을 제공합니다.