판매용 중고 HITACHI S-2460N #9139355

ID: 9139355
Scanning electron microscope (SEM) Oxford Detector Robinson Back Scatter Robinson Chamber Scope Camera EDS Secondary Electron PCI.
HITACHI S-2460N은 고해상도 이미지를 제공하는 탁월한 능력으로 유명한 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 기기에는 피크 (PEC) (Projection Electron Column) 가 장착되어 있으며, 심도 및 해상도가 향상되어 뛰어난 이미징 성능을 제공합니다. 이 SEM은 또한 높은 확대 기능을 제공하여 상세한 관찰을 제공합니다. 또한, 내장형 이미징 장비는 다양한 해상도 및 확대/축소 설정을 가능하게 합니다. S-2460N 스캐닝 전자 현미경은 전기 간섭 억제 시스템 (EIS), 가변 스캐닝 모드 및 디지털 충돌 전류 제어 장치 (DCCS) 와 같은 고급 기능을 통합합니다. EIS 머신은 간섭이없는 이미지 품질을 제공하는 반면, 가변 스팟 스캐닝 (variable-spot scanning) 모드는 표본을 자세히 관찰하는 데 효과적으로 사용될 수 있습니다. 또한, DCCS (Digital Collision Current Control Tool) 는 전자 빔 전류에 대한 디지털 제어를 제공하여 장기 작동에 대한 정확한 조정을 가능하게합니다. 또한 현미경에는 이미지 최적화를 위한 이미지 처리 자산이 내장되어 있습니다. 이 기기에는 자동 샘플 로더가 포함되어 있으므로 빠르고 간단한 샘플 검사를 할 수 있습니다. 또한 표본 표면을 측정하고 평가하는 기능도 있습니다. HITACHI S-2460N은 또한 3 단계 표본 대 이미지 변환 스테이션을 사용하여 표본을 자동으로 이동하고 필요한 평면에 배치합니다. 또한 스테이션에는 설정 시간을 줄이고 이미지 전송을 단순화하도록 설계된 자동 (automated) 정렬이 있습니다. 또한 S-2460N 에는 데이터 전송 및 원격 작업이 간편한 통합 통신 포트가 있습니다. 사용자 친화적 인 인터페이스를 통해 데이터, 분석, 이미지를 간단하게 해석할 수 있습니다. 주사 전자 현미경에는 저용량 (low-dose rate) 기능이 장착되어 표본 손상을 줄입니다. 전반적으로 HITACHI S-2460N은 인상적인 기능을 갖춘 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 안정된 성능, 고성능 (HA), 사용자 친화적 (User-Friendly) 기능을 통해 다양한 어플리케이션을 위한 최적의 선택이 가능하므로 매우 정확한 결과를 위한 탁월한 이미징 성능을 제공합니다.
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