판매용 중고 HITACHI S-2400 #9294571

ID: 9294571
Scanning Electron Microscope (SEM) Cables are nonfunctional.
HITACHI S-2400은 과학 및 산업 이미징 응용 분야에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현미경은 기존의 광학 현미경보다 높은 배율과 해상도를 달성 할 수 있습니다. 고해상도 이미징 (High-resolution Imaging) 을 위한 고급 장치로, 다양한 배율에서 샘플의 표면 및 원소 식별이 가능합니다. S-2400에는 고감도 및 대조 이미징을 위해 와페 그 (WAFEG) 가 장착되어 있습니다. 이것은 하전 입자의 확산없이 비 전도성 샘플의 영상을 허용합니다. 입사 전자 빔 에너지는 최대 15k eV 가변적이며, 다중 이미징 모드 및 응용이 가능하다. 현미경은 또한 10-6 Pa (Pa) 까지 낮은 진공 작동 상태를 특징으로하여 대기 중 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 이를 통해 HITACHI S-2400은 진공에서 관찰 할 수없는 생물학적 및 기타 샘플을 관찰하는 데 이상적입니다. 이 장치는 4k CCD로 1nm의 우수한 해상도와 빠른 표본 촬영을 위해 높은 스캔 속도를 자랑합니다. 내장형 디지털 인터페이스와 함께 S-2400 은 원격으로 작동할 수 있으며, 데이터를 보다 쉽게 전송, 처리할 수 있습니다. 현미경에는 일련의 고급 작동 모드가 있습니다. 여기에는 사전 프로그래밍된 이미지 획득 시퀀스가 포함되며, 사용자가 클릭 한 번으로 여러 이미지를 분석할 수 있습니다. 또한 유연한 이미지 획득 시스템 (Flexible Image Acquisition System) 이 장착되어 있어 더 긴 스캔에서 더 높은 확대를 허용합니다. 또한 HITACHI S-2400을 사용하면 그레이팅 (grating) 또는 플랫 (flatness) 과 같은 기능을 자동으로 파동 및 Zernike 측정할 수 있습니다. 그 결과, 현미경은 변형 및 표면 지형 측정에 사용될 수 있습니다. 결론적으로, S-2400은 과학 및 산업 응용에 적합한 고성능 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 제품은 다양한 고급 이미지 처리 기능 (Advanced Imaging Capability) 과 운영 모드 (Operating Mode) 를 제공하므로 높은 확장성과 탁월한 해상도로 상세 분석을 수행할 수 있습니다.
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