판매용 중고 HITACHI S-2400 #9231317

ID: 9231317
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-2400 (HITACHI S-2400) 은 예외적 인 확대 및 깊이 (depth of field) 로 생물학적 및 물질 샘플을 관찰하려는 사용자에게 이상적인 환경 주사 전자 현미경입니다. 이 장비는 최첨단 자기장 방출 스캐닝 전자 현미경을 제공하며 회전 제어, 자동 초점, 자동 샘플 네비게이션 (automated sample navigation) 과 같은 자동 기능을 갖춘 작동하기 쉬운 플랫폼을 제공합니다. 이 시스템은 가장 낮은 가속 전압 (Acceleration Voltage) 과 작은 프로브 (Probing) 수로 작동 할 수있는 고대비 필드 배출 건으로 제작되어 해상도가 향상되고 전류 소비가 적습니다. S-2400은 가속 전압 1kV에서 1.5nm의 높은 해상도를 가지며, 최소 전위 200V입니다. HITACHI S-2400은 생물학적 샘플, 반도체 및 금속을 포함한 다양한 샘플을 분석하는 데 이상적입니다. 액체, 진공 및 저온 (-100 ° C) 에서 샘플을 관찰하고 분석 할 수있는 기능이 있습니다. 6 세트의 현장 내비게이션 스테이지는 샘플 탐색 및 조작을 쉽고 빠르게 만듭니다. S-2400 은 디지털 직접 감지 장치를 사용하여 신호 처리, 성능, 이미지 품질을 향상시킵니다. 또한, 기계에는 이미지 왜곡 없이 이미지를 빠르게 기록 할 수있는 SSD (Fast Surface Segmentation Detector) 가 장착되어 있습니다. HITACHI S-2400 에는 이중 가변 압력 연삭 도구 (Dual Variable Pressure Grinding Tool) 와 다양한 방식으로 표본을 미세하게 처리 할 수있는 난방 단계도 있습니다. 또한, 자산은 가벼운 현미경과 통합되어 스캔 및 광학 이미지를 동시에 관찰 할 수 있습니다. 또한 S-2400 은 고급 이미지 처리 모델을 통해 자동 초점 (autofocus), 회전 제어 (rotation control), 자동 샘플 탐색 (automated sample navigation) 과 같은 자동화된 기능으로 생성된 이미지를 관찰할 수 있습니다. 또한, 장비에는 고해상도 이미지와 다양한 측정 기능이 가능한 3D 현미경이 내장되어 있습니다.
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