판매용 중고 HITACHI S-2300 #9080004

HITACHI S-2300은 현미경 영상 및 분석을 위해 다양한 분야에서 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM (Analysical Tool) 은 샘플 표면을 나노미터 스케일까지 조사하고 특성화할 수있는 분석 도구입니다. 이 현미경으로, 다양한 물질로부터 구성, 형태 및 구조 정보를 얻을 수 있습니다. S-2300은 고해상도 SEM 이미징의 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 열 안정성 및 안정성 전류가 높은 고품질 신호를 제공하는 FEG (thermionic, field emission gun) 에서 실행됩니다. Everhigh ™ Detector System은 역 산란 전자와 2 차 전자를 모두 감지 할 수 있습니다. 이 전자 검출기는 스팟 온 정렬 시스템 (spot-on alignment system) 을 특징으로하여 파장 분광기를 사용하여 빔 위치와 전류를 모니터링하여 적절한 빔 위치를 결정함으로써 정확한 빔 배치를 보장합니다. 또한 HITACHI S-2300에는 3 차원 샘플을 통해 탐색 할 수있는 스테이지 틸트 기능이 있습니다. 이를 통해 기존 이미징을 시각화하기 어려운 고급 (Fine) 기능을 확인할 수 있습니다. 또한, 시간이 많이 걸리거나 어려운 경향이 있는 추가 단계 (additional stage) 또는 샘플 회전 (sample rotation) 의 필요성을 줄입니다. S-2300의 다른 독특한 기능으로는 VVS (Vacuum Viewing System) 가 있으며, 이를 통해 SEM 챔버 내에서 샘플을 실시간으로 관찰 할 수 있습니다. 따라서 SEM 이미징에 필요한 준비 시간이 단축됩니다. 또한 정확한 이미징 및 분석을 위해 기계적, 환경적 장애로 인한 간섭을 최소화하도록 설계된 초저진동 전망실 (ultra-low-libration viewing chamber) 이 있습니다. HITACHI S-2300 스캐닝 전자 현미경은 다양한 샘플을 이미징 및 분석하는 데 매우 강력한 도구입니다. 고품질 신호, 향상된 전자 탐지기, 3 차원 이미징, 실시간 관측 기능의 조합으로 인해 많은 분야의 연구원들에게 이상적인 선택이되었습니다.