판매용 중고 HITACHI RS7000-30 #113466
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ID: 113466
빈티지: 1997
tester
2 left, 2 right
Software version 5.31
PLC labeler
Loader / unloader conveyor: short
Warehoused
1997 vintage.
HITACHI RS7000-30은 고정밀 이미징 및 분석 기능을 제공하는 중형 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 한 번에 마이크로칩 (microchip) 과 PCB (PCB) 와 같은 큰 개체의 이미지를 캡처 할 수있는 넓은 시야가 있습니다. 현미경에는 50 keV 전자 빔 건 (electron beam gun) 이 있으며, 이는 높은 대비 이미지를 제공하여 가장 작은 세부 사항까지 캡처 할 수 있습니다. 또한 2 차 전자 검출기가 있어 해상도가 높아집니다. 밝은 장, 어두운 장, 백스캐터 전자 영상 및 에너지 분산 분광법 (EDS) 을 포함한 다양한 작동 모드를 사용할 수 있습니다. 밝은 필드 SEM (Bright field SEM) 은 관찰되는 샘플의 모양과 구조를 밝히면서 대비가 높은 이미지를 생성합니다. [어두운 필드 SEM] 을 선택하면 샘플 가장자리가 강조표시되고 SEM 이미지에서 더 높은 대비 세부 정보가 생성됩니다. 금속 분석 및 표면 구조 분석에 가장 많이 사용되는 모드 인 백스캐터 전자 이미징 (Backscatter Electron Imaging) 은 샘플의 미세한 세부 사항과 모서리를 보여줍니다. EDS 모드는 원소 분석 기능을 제공하여, 샘플에 존재하는 요소의 존재 여부와 수량을 감지합니다. RS7000-30에는 동력 무대와 매우 민감한 Z축 인코더가 내장되어 있으며, 이를 통해 정확한 스테이지 포지셔닝 및 샘플 조작이 가능합니다. 현미경의 샘플 챔버에는 5 방향 에어록 도어가 있으며, 최대 40kg의 샘플 무게를 지원할 수 있습니다. 챔버는 공랭식이며, 관찰을 용이하게하기 위해 다양한 뷰포트를 갖추고 있습니다. HITACHI RS7000-30은 사용자에게 친숙한 GUI (Graphical User Interface) 를 제공하여 모든 현미경 기능을 직관적으로 작동하고 제어할 수 있습니다. 내장형 이미지 처리 시스템은 고품질 이미징을 위한 이미지 미화, 마스킹, 스티칭 기능을 제공합니다. 또한 RS7000-30은 스테이지 구성, 디지털 카메라 등 다양한 액세서리와 호환되므로 이미지 처리 기능이 향상되었습니다. 결론적으로, HITACHI RS7000-30은 효율적이고 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 작동 모드, 미세한 샘플 포지셔닝 및 조작 기능, 이미지 처리 기능을 제공합니다. 직관적인 인터페이스, 유연한 구성, 다양한 액세서리 (액세서리 선택) 를 통해 광범위한 실험실 어플리케이션을 선택할 수 있습니다.
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