판매용 중고 HITACHI RS-3000 #9026254

HITACHI RS-3000은 SEM (State-of-Art Scanning Electron Microscope) 으로, 사용자가 작은 구조, 입자 및 표면을 이미징 및 분석할 수 있는 강력한 도구를 제공하도록 설계되었습니다. 이 장비는 고해상도 전자 빔 (electron beam) 을 사용하여 최대 100,000 배율의 샘플의 지형 이미지를 허용합니다. 현미경에는 다양한 독립적 인 2 차 및 백스캐터링 된 전자 검출기가 장착되어 있어 샘플 구조의 가장 정확한 분석을 허용합니다 (예: sample structure). HITACHI 고유 SIL (Structured Illumination System) 은 전자 빔을 의사-3D 패턴으로 스캔하여 이미지를 향상시킵니다. 이것은 샘플 주위에 다양한 방위각 (azimuthal angle) 을 만들어 결정 구조, 그레인 경계 및 위상 간의 인터페이스를 볼 수있는 뷰를 만듭니다. SIL 장치는 확장 된 샘플에서 원자 수준 이미징 (near atomic level imaging) 을 허용하여 샘플을 변경하지 않고 단일 입자 또는 샘플 영역의 이미징을 가능하게하도록 특별히 설계되었습니다. HITACHI RS 3000은 또한 표면 특성화를위한 온보드 비행 시간 보조 이온 질량계 (TOF-SIMS) 를 특징으로합니다. TOF-SIMS (TOF-SIMS) 는 나노미터 이하의 해상도를 갖는 표면의 진정한 3D 이온 매핑을 가능하게 하며, 이를 통해 표면의 화학 조성에 대한 자세한 정보를 얻을 수 있습니다. 이 기계에는 다양한 강력한 자동화 기능이 포함되어 있어 정교한 R&D 연구소 (R&D Lab) 와 수많은 산업 어플리케이션 모두에 이상적인 선택입니다. 자동화된 툴은 데이터 수집 프로세스를 간소화하면서 사용자 피로를 제거합니다. 또한, 직관적인 컨트롤러 화면을 통해 SEM을 쉽게 제어하고, 고급 기능에 액세스할 수 있습니다. RS-3000 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 작은 입자를 이미징, 분석 및 특성화하기위한 포괄적 인 기능을 제공하여 샘플 분석 및 연구에 이상적인 선택입니다. 자동화된 기능과 결합된 정교한 이미징 (Imaging) 과 분광학적 (Spectroscopic) 기능으로, 과학적 연구 및 산업 응용에 적합한 선택입니다.