판매용 중고 HITACHI Regulus 8230 #293593099

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ID: 293593099
빈티지: 2018
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) URH Cold Computer controller With 5-axis motorized stage XY: 110 x 110 mm SE Resolution: 0.7 nm, 15kV and 0.9 nm, 1 kV Maximum magnification: 2,000,000x Top filter function Real time image processing function Specimen exchanger airlock, 6" Beam deceleration system Keyboard EDS With DBC and TCP/IP interface Compressor and dry scroll pump Chamber scope CT-6020 Water circulator Air protection specimen holder unit Chamber AZTEC Live standard microanalysis system Ultim extreme, 4" Resolution: Mn K-127 ev at 13000 CPS HITACHI IM4000 Plus Ion milling system With cooling unit Temperature control unit Mass flow gas controller Cross-section holder Cryo adaptor for AP holder Flat ion milling unit Does not included gas adaptor kit 2018 vintage.
HITACHI Regulus 8230 주사 전자 현미경 (SEM) 은 다양하고 정교한 영상 장치로, 연구원들이 다양한 샘플의 구조와 구성을 관찰하고 분석 할 수 있습니다. 그것 은 전자 "칼럼 '을 결합 시키는데, 이것 은" 샘플' 을 전자 와 조사 하기 위한 총 과 배경 전자 를 검출 하기 위한 "시스템 '을 인체 공학적 설계 와 직관적 인 사용자 인터페이스 와 결합 시킨다. HITACHI REGULUS8230 (HITACHI REGULUS8230) 은 현장 방출 소스를 활용하여 최대 3 nm 의 뛰어난 해상도를 제공하며, 보다 높은 수준의 세부 사항으로 샘플을 관찰 및 분석할 수 있습니다. 3 축 (three-axis) 단계를 갖추고 있어 표본의 정확하고 유연한 위치 지정 및 조작이 가능하므로 다양한 재료에 적합합니다. 높은 진공 작동 덕분에 SEM은 초저진공 조건에서 물질을 관찰 할 수 있게 되므로 휘발성 물질 (volatile materials) 을 연구하는 데 효과적입니다. 레굴루스 8230 (Regulus 8230) 은 기존의 밝은 장, 역 산란 전자 영상, 낮은 진공 영상, 현장 난방 및 냉각 등 다양한 이미징 모드를 수행 할 수 있습니다. 또한 SE, BSED, BSSD 및 EDX와 같은 다양한 이미지 데이터 형식과 고해상도 3 차원 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한, SEM은 연구원들이 다양한 요소의 흡수 가장자리와 같은 분광 정보를 얻을 수 있습니다. 마지막으로 REGULUS8230은 샘플 홀더, 전자 검출기, 분석 장치, 주변 장비 등을 포함한 광범위한 액세서리를 제공합니다. 따라서 복잡한 분석에서도 SEM 을 특정 이미징 요구에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 또한, SEM에는 기기 제어 및 데이터 수집을위한 소프트웨어 패키지가 함께 제공되며, 연구원들에게 완벽한 분석 솔루션 (analytical solution) 이 제공됩니다.
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