판매용 중고 HITACHI NE-4000 #9260762

HITACHI NE-4000
ID: 9260762
빈티지: 2011
Electron Beam Absorbed Current (EBAC) characterization system Driving method: Piezoelectric Fine stroke range: 5 µm (X,Y) Coarse stroke range: 6 mm (X,Y) Specimen stage / Base stage Specimen size: 25 mm × 25 mm × 1 mm Thick or less Traverse position: Measurement / Specimen exchange position Specimen exchange: Air-locked exchange chamber Prober navigation: Stage traverse to probe position Measurement position memory Probe coarse adjustment: CCD Image display: Image display from lateral direction Electron optics: Electron gun: Cold field emission electron source Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV Resolution: 15 nm (at 2 kV, WD: 15 mm) Image shift: ±150 µm (at 2 kV, WD: 15 mm) EBAC Amplifier / Image display: Amplifier type: Current amplifier / Differential amplifier Image display: SEM / EBAC (Single / Parallel / Overlay) Image processing: Black and white reversal display Color display Brightness adjustment Slow scan integration Belt scan Utility: Room temperature: 15°C - 25°C Humidity: 60% RH or Less Grounding: 100Ω or Less Power supply: AC 100 V, ±10% 5 kVA (M5 Crimp terminal) 2011 vintage.
HITACHI NE-4000은 연구 및 산업 분석에 사용하도록 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장비에는 디지털 단층 그래프 (tomograph) 가 장착되어 있어 뛰어난 확대 수준과 다양한 이미징 기능을 제공합니다. NE-4000 은 고해상도 스캐닝 (scanning) 기능과 통합 이미지 분석 시스템을 통해 최대 0.35nm 의 해상도로 미세 구조를 정확하게 이미징할 수 있습니다. 현미경에는 특수 제작 된 객관식 렌즈 (objective lens) 가 있으며, 이는 이미징 효과와 성능을 극대화하기 위해 설계되었습니다. 초고주파 전원 신호 공급 장치 (Ultra-High-Frequency Power Signal Supply) 가 전자 빔에 제공되어 안정성과 재생성을 보장합니다. 현미경의 다른 특징으로는 표본 코트 방전 소스, 최대 온도가 540 ° C 인 샘플 챔버, 컬럼 내 빔 블랭커, 전자 건 제어 장치 등이 있습니다. HITACHI NE-4000 장치는 또한 완전하게 자동화된 표본 처리 기계를 갖추고 있으며, 이를 이용하여 표본을 마운트하고 분석할 수 있습니다. 이 도구를 사용하면 표본의 위치 (position) 와 확대 (magnification) 를 정확하게 제어하여 표본의 고해상도 스캔을 할 수 있습니다. 자동 에셋을 설치하면, 현미경은 매핑, 3D 이미징, 상관 현미경 등과 같은 다양한 응용 프로그램에 사용될 수 있습니다. 이 모델의 고정밀 이미징 성능은 현미경에 직접 연결된 CCD 카메라 (CCD Camera) 장비를 사용하여 더욱 향상되었습니다. 이 시스템은 최대 25 메가 픽셀 (MB) 의 디지털 이미지를 놀라운 수준의 디테일로 캡처할 수 있습니다. 단위는 이미지 분석 (image analysis) 과 조작 (manipulation) 을 위한 다양한 소프트웨어 패키지와 호환되므로, 이미지도 쉽게 처리할 수 있습니다. 또한 NE-4000 머신에는 고속 스캔 단계, 지능형 이미지 처리, 고해상도 디지털 이미징 등 다양한 신호 처리, 이미징, 측정 툴이 장착되어 있어 이미지 처리 성능을 향상시킵니다. 또한, 현미경은 3D 이미지를 실시간으로 표시 할 수 있으며, 이 도구는 특히 산업 검사 및 연구 실험실 응용 프로그램에 적합합니다. 전반적으로 HITACHI NE-4000은 nanometre 수준에서 미세 구조의 고해상도 이미징에 이상적인 선택입니다. 다양한 고급 이미징 (advanced imaging) 기능과 자동화된 표본 처리 기능을 통해, 세밀하고 정확성이 뛰어난 정밀한 이미지를 제공할 수 있습니다. 이 자산은 사용자 친화적이며 사용하기 쉽도록 설계되었습니다. 이 자산은 리서치 (Research) 와 산업 응용 프로그램 (Industrial Application) 모두에 적합한 선택입니다.
아직 리뷰가 없습니다