판매용 중고 HITACHI NB5000 #293779250
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ID: 293779250
빈티지: 2018
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Resolution:
SEM: 1.0 nm at 15 kV
FIB: 5 nm at 40 kV
FIB Column:
Ga Ion source: >50 nA
2-Stage electro static lens system
Octopole electro static lens system
Pattern generator system: 4K x 4K
SEM Column:
Maximum beam current: >30 nA
3-Stage electro magnetic lens reduction system
Electro static blanking system
SE Power supply
Image memory: 2560 x 1920
Vacuum system:
Turbo molecular pump
Dry pump
Ion source chamber
Electron gun
(2) Buffer tanks
Micro-sampling system:
3-Axis motor drive system
X Range: 1 mm
Y Range: 2 mm
Z Range: 2.5 mm
Chamber scope:
LCD Monitor, 7"
Stand
IR Camera
Power cable
AC / DC Adaptor
Air compressor
N2 Gas leak system
Multi-stage control panel
Console control unit
Power supply unit
AC Power distribution
Transformer
Laser sample height adjust tool
Manual sample height adjust tool
Interlock function
PC
Processor: INTEL i7
Flat panel LCD Monitor, 22"
Mouse
Keyboard
Control panel
RAM: 16 GB
64-Bit
Hard Disk Drive (HDD): 500 GB
Does not include EDS
Operating system: Windows 7
2018 vintage.
제목: HITACHI NB5000 Scanning Electron Microscope NB5000 소개는 다양한 과학 및 산업 응용 분야에서 고해상도 이미징 기능, 사용자 친화적 인터페이스 및 다재다능성으로 유명한 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 도구는 전자 현미경 (electron microscopy) 영역에서 이미징 기술의 정점을 나타내며, 연구원과 전문가들에게 탁월한 선명도와 정밀도로 나노 스케일 (nanoscale) 구조의 복잡한 세부 사항을 해결할 수있는 능력을 제공합니다. 주요 특징 및 사양: HITACHI NB5000의 핵심은 전자 광학 시스템 (Electron Optical System) 으로, 현미경은 놀라운 확대 기능으로 초고해상도 이미징을 달성할 수 있습니다. 이 기구 에는 전자원 으로서 전장 방출 총 (FEG) 이 장착 되어 있어서, "나노미터 '척도 에서" 시이징' 에 필수적 인 고도 로 집중 된 전자 빔 을 생성 할 수 있다. NB5000 은 최대 30 kV 의 가속 전압 (Accelerating Voltage) 을 자랑하며, 광범위한 표본의 가장 작은 세부 사항과 표면 기능까지 관찰할 수 있습니다. 현미경은 2 차 전자 (SE), 역 산란 전자 (BSE) 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 검출기를 포함한 다양한 검출기를 특징으로하며, 사용자에게 연구 요구에 맞는 다양한 이미징 및 분석 옵션을 제공합니다. SE 검출기는 일반적으로 고해상도 표면 이미징에 사용되며, BSE 검출기는 샘플 구성 및 지형에 대한 정보를 제공합니다. EDS 기능의 통합은 표본의 원소 분석을 가능하게하여 HITACHI NB5000을 이미징 및 화학적 특성화를위한 다용도 도구로 만들었습니다. NB5000 은 빔 감속 모드 (Beam Deceleration Mode), 자동 빔 조정 기능 등 고급 빔 제어 시스템을 갖추고 있어 최적의 이미징 조건과 반복 기능을 제공합니다. 이 현미경은 또한 높은 정밀도 포지셔닝 (positioning) 기능을 갖춘 모터 스테이지 (motorized stage) 를 갖추고 있으며, 샘플 내에서 관심 영역을 탐색하고 분석하기 쉽습니다. 또한 HITACHI NB5000 은 직관적인 사용자 인터페이스/소프트웨어 패키지와 함께 제공되므로 운영 및 데이터 분석을 원활하게 수행할 수 있으며, 연구원과 기술자를 위한 워크플로우를 간소화할 수 있습니다. 응용 프로그램 및 영향: NB5000은 재료 과학, 생명 과학, 지질학, 전자 공학 등 다양한 과학 분야에서 광범위한 용도를 찾습니다. 재료 과학에서, 현미경은 결함, 곡물 경계, 위상 식별의 특성을 돕는 다양한 재료의 미세 구조 및 형태를 검사하는 데 사용된다. 생명 과학에서 HITACHI NB5000 (HITACHI NB5000) 은 연구자들이 세포 및 세포 이하의 수준에서 생물학적 샘플을 탐구 할 수 있으며, 뛰어난 명확성으로 단백질, 세포 및 조직의 복잡한 구조를 풀어줍니다. 지질학 분야에서, NB5000은 광물 조성, 기공 구조, 퇴적물 특징을 연구하는 데 사용되며, 지구의 지질 과정과 역사에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 전자 산업에서 현미경은 고장 분석 (failure analysis), 공정 최적화 (process optimization) 및 반도체 장치 및 마이크로 일렉트로닉스 부품의 품질 제어에 중요한 역할을합니다. HITACHI NB5000 의 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 및 분석 (Analytical) 기능은 이러한 다양한 분야의 연구 개발 노력에 혁명을 일으켜 새로운 발견과 혁신의 길을 마련했습니다. 결론적으로, NB5000 스캐닝 전자 현미경은 이미징 기술의 정점 (pinnacle of imaging technology) 으로, 연구자와 전문가는 나노 스케일 세계를 정확하고 명확하게 탐구하기위한 탁월한 도구를 제공합니다. HITACHI NB5000 은 고급 기능, 고해상도 이미징 기능, 다용도 어플리케이션 등을 통해 다양한 분야에 걸쳐 과학적 발견과 혁신 (Innovation) 의 경계를 넓힐 수 있어 전자 현미경 영역에서 없어서는 안 될 자산입니다.
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