판매용 중고 HITACHI IS 3200SE #9244866

HITACHI IS 3200SE 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 고해상도의 연구 등급 이미징 장치로, 미세 규모의 구조와 특징을 상세하고 정확하게 시각화할 수 있습니다. 1.0 나노 미터 해상도, 고품질 이미징 모드를 사용하며, 연구원은 1 미크론 (1 미크론) 보다 작은 세부 사항을 정확하게 관찰하고 분석 할 수 있습니다. IS 3200SE는 고품질 전자 빔을 생성하는 특수 전자 건 및 이미징 구성을 사용합니다. 이 광선 은 0.2 "나노미터 '의 정확도 로 정확 히 초점 을 맞출 수 있으며, 여러 가지 해상도 와 분석 기법 을 만들기 위하여 더욱 조작 할 수 있다. 이 기능을 사용하면 이미지의 해상도와 정확도를 높일 수 있는 고유한 이미징 (Imaging) 모드를 사용할 수 있습니다. 기본 이미징에서 HITACHI IS 3200SE는 백스캐터링 (back-spattered) 전자와 2차 (secondary) 전자를 모두 활용하고 이러한 이미징 기술을 하나의 이미지로 결합하여 더 세밀한 수준의 해상도를 만들 수 있습니다. 또한, 현미경은 스테이지 틸트 시스템을 사용하여 3 차원 이미지와 에너지 분산 X-ray, Auger 분광학 및 전자 백스캐터 분광법을 포함한 다양한 분석 기술을 만듭니다. 고해상도 이미징 기능 외에도 IS 3200SE도 매우 조절할 수 있습니다. 다양한 AC/DC 바이어스 전압, 샘플 민감도, 스테이지 구성 및 이미징 기술과 함께 사용할 수 있습니다. 또한, 임베디드 컴퓨터 시스템을 통해 해당 기능과 작업에 액세스하고 수정할 수 있습니다. 이 부가 된 다재다능 함 은 여러 연구가 들 이 특정 한 필요 에 따라 "현미경 '을 쉽게 수정 할 수 있게 해 준다. HITACHI IS 3200SE (HITACHI IS 3200SE) 는 강력한 성능, 고급 스캐닝 전자 현미경으로 상세한 마이크로 스케일 이미징에 탁월한 해상도와 정밀도를 제공합니다. 임베디드 컴퓨터 시스템 (Embedded Computers System) 과 조절 가능한 기능과 더불어 이미징 (Imaging) 기능을 통해 많은 연구자와 과학자들에게 매우 유용하고 다양한 도구를 제공합니다.