판매용 중고 HITACHI I6300 #9236029

HITACHI I6300 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 광범위한 어플리케이션을 위한 정확한 이미징 및 분석 기능을 제공하도록 설계된 고성능 장비입니다. 현미경은 고해상도 e- 빔을 사용하여 샘플 표면의 3D 이미지를 생성하며, 해상도는 1 nm (낮은 이미지) 입니다. HITACHI I 6300에는 SEI (Secondary Electron Imaging), BSEI (Backscattered Electron Imaging), EDX (X-ray Elemental Mapping), EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) 및 Wopenth-Disconsive-Discopy와 같은 광범위한 분석 기능이 있습니다. 현미경은 또한 이중 빔 시스템을 특징으로하며, 이는 SEM과 가변 압력 스캔 전자 현미경 영상 (VPSEM) 을 동시에 수행 할 수 있습니다. I-6300에는 ABT (Advanced Beam Technology) 장치가 있어 안정성 및 해상도 측면에서 다른 SEM을 능가 할 수 있습니다. ABT 기계는 스캔 속도와 프레임 수를 합성하여 신호 대 잡음 비율을 최적화합니다. 또한 ABT 툴은 신호 대 시간 비율을 향상시켜 데이터를 신속하게 수집할 수 있습니다. 현미경은 새로운 유형의 고해상도 저소음 탐지기 (low-noise detector) 를 사용하여 감도와 명암을 향상시킵니다. 검출기는 컴팩트 한 판독 (readout) 자산에 미세한 메쉬로 만들어져 고해상도 이미징을 가능하게 합니다. 현미경에는 고급 X-ray 소스가 내장되어 있어 단일 모델 내에서 정확하고 반복 가능한 X-Ray 매핑 및 EDX 분석이 가능합니다. HITACHI I-6300 표본실은 최적의 작동 조건을 제공하도록 설계되었습니다. 이 제품은 진공 (vacuum) 및 저압 작동 (low-pressure operation) 과 같은 광범위한 샘플과 대규모 샘플 홀더를 처리 할 수있는 특수 환경을 갖추고 있습니다. 진공 수준은 특수 제어 밸브 및 자동 가스 관리 장비로 조정 할 수 있습니다. I6300은 생물학적 표본, 재료 과학, 반도체 웨이퍼 분석, 나노 구조 특성 등 다양한 이미징 응용 분야에 사용될 수 있습니다. 고해상도 이미징 기능을 통해, 현미경은 다양한 샘플 표면에 상세한 이미지를 만들 수 있습니다. 또한 특수 자동 이미징 (automated imaging) 모드가 장착되어 있어 일상적인 모니터링 (routine monitoring) 이나 결함 감지 (defect detection) 등 다양한 자동화 작업에 적합합니다.