판매용 중고 HITACHI HL-8000M #293765903

HITACHI HL-8000M SEM (Scanning Electron Microscope) 은 샘플의 상세한 표면 및 지표면 분석을위한 고급 이미징 장비입니다. 고도로 조절 가능한 진공 챔버 (vacuum chamber) 를 갖추고 있으며 최대 5,000배의 이미징 기능을 제공하여 탁월한 수준의 선명도와 디테일을 제공합니다. 새로 개발 된 전자 광학 시스템 및 집중식 이온 빔 (FIB) 이 장착되어 있어 샘플의 표면과 내부를 모두 이미징 할 수 있습니다. HL-8000M SEM에는 고해상도의 고급 이미징 장치가 있습니다. 단색 장치 (monochromator) 는 2 미크론 미만의 표본 기능 사이에서 더 큰 유연성과 향상된 대비를 제공합니다. 전자광학 렌즈 (optics lens) 와 전계 방출 건 (field emission gun) 의 전례없는 조합은 0.5 나노미터 해상도에서 강력한 영상 특성을 생성합니다. 5 축 스테이지 머신은 통합 내비게이션을 제공하여 전체 샘플 영역에서 고급 내비게이션을 가능하게 합니다. 분석 능력 측면에서 HITACHI HL-8000M SEM에는 에너지 분산 분광법 (EDS) 및 파장 분산 분광법 (WDS) 검출기가 모두 장착되어 있습니다. 이를 통해 표본에서 생성 된 x- 선 신호를 전자 빔 (electron beam) 으로 조사함으로써 표본의 원소 분석을 허용합니다. 또한 특허를받은 FIB 기술로, 정밀 샘플링 및 재료 하위면 이미징이 있습니다. FIB 기술은 또한 추가 분석을 위해 고정밀 표본 절단을 가능하게합니다. HL-8000M SEM 운영 경험은 최신 사용자 제어 소프트웨어에 의해 더욱 향상되었습니다. 이 정교한 소프트웨어는 공구 매개변수에 대한 완전한 액세스를 제공하며, 원격 작업 및 교정을 제공하며, 강력한 이미지 처리 기능을 제공합니다. HITACHI HL-8000M 은 또한 클린 룸 엔클로저 (clean-room enclosure) 옵션으로, 샘플과 접촉해야 하는 실험실 환경에 적합합니다. 전반적으로 HL-8000M SEM은 실험실 환경을 위한 강력하고 다양한 이미징 자산입니다. 광학, 전자 빔 (electron beam) 기술 및 분석 도구의 강력한 조합은 고해상도의 샘플의 상세한 표면 및 지하 영상을 제공합니다. 직관적 인 사용자 제어 소프트웨어, 고급 내비게이션 모델 및 세균성 설계로 인해 HITACHI HL-8000M은 연구원과 과학자 모두에게 훌륭한 선택이되었습니다.