판매용 중고 HITACHI HL-7000M #293646539

HITACHI HL-7000M은 반도체 재료 및 기타 소형 구조의 고품질 이미징 및 분석을 위해 설계된 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM은 FEG (Field Emission Gun) 전자 소스를 사용하여 에너지 해상도 0.05 eV의 집중 빔을 생성하여 2.0mm의 작은 작업 거리로 최대 20kV를 제공합니다. SEM에는 디지털 카메라와 2.73 인치 (2.73 인치) 의 대형 단색 TV 모니터가 장착되어 있어 표본을 쉽게 볼 수 있습니다. 그것은 최대 50mm의 넓은 심도와 10 배에서 200,000x 사이의 배율 범위를 가지고 있습니다. HITACHI HL 7000M (HITACHI HL 7000M) 은 고해상도의 작은 구조를 이미지화하도록 매우 균일한 e- 빔 이동을 통해 삼각 패턴 스캐닝 기술을 활용하는 독특한 2 차 전자 이미지 분석기를 갖추고 있습니다. 이는 최소 소음의 고품질 이미징 해상도를 보장합니다. 또한 전자제품 (electronics) 제어 장비를 갖추고 있어 빔 (beam) 과 좌표계 (coordinate system) 를 정확하게 제어하여 일관된 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한 HL-7000M 에는 이미지 밝기 및 명암비 자동 조정을 위한 이미지 필터 자동 조정 (auto-tuning) 과 최적의 이미지 품질을 위한 정점 조정 (vertex adjustment) 이 장착되어 있습니다. 또한 표본 조작 및 이미징에 소요되는 시간을 크게 줄여 직교 (orthogonal) 및 수평 (horizontal) 방향으로 샘플을 완전히 정렬할 수있는 고급 자동 정렬 장치가 있습니다. 최대한의 편의를 위해, 현미경에는 빔 드리프트 (beam drift) 와 오정 (misalignment) 을 방지하기 위해 타사 안전 시스템과 통합되는 안전한 취급 기계가 함께 제공됩니다. 또한 다양한 주변 장치 (peripheral device) 에 연결할 수 있는 데이터 출력 포트도 있습니다. 또한 SEM에는 궤적 소프트웨어 패키지, 3D 이미지 개선 및 분석, 다기능 안정성 분석 소프트웨어 등 다양한 소프트웨어 옵션이 제공됩니다 (영문). 또한 전용 이미지 데이터베이스 소프트웨어 (PC 또는 네트워크로의 데이터 저장 및 전송) 와 표본의 회전 이미징 (rotational imaging) 을 허용하는 표본 회전 도구를 제공합니다. HL 7000M (HL 7000M) 은 다양한 기능을 제공하는 고성능 스캐닝 전자 현미경을 찾는 실험실에 이상적인 선택입니다. 첨단 이미징 (Advanced Imaging) 과 제어 시스템 (Control System) 과 정교한 소프트웨어 패키지의 조합으로 다양한 샘플을 관찰하기위한 진정한 다용도 도구입니다.