판매용 중고 HITACHI FS300i Type II #9203965

HITACHI FS300i Type II는 미세 분석에 사용하도록 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징 기능을 제공하는 FEG-HBS (Cold Field Emission High Brightness Source) 를 사용하는 저진공 SEM (LV-SEM) 입니다. "셈 '은 0.5 - 30" kV' 의 "에너지 '범위 로" 이미지' 를 얻을 수 있으며 여러 가지 크기 와 표본 모양 을 지지 하는 표본 단계 를 갖추고 있다. LV-SEM은 이미징 성능 및 자동화 작업 분야에서 최신 기술을 제공합니다. HFMS (Hyper Face Mapping Equipment) 를 사용하여 샘플을 세 방향에서 동시에 스캔할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 샘플 데이터를 비교할 수 있게 해 주며, 이를 통해 사용자가 매우 정확한 분석 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 SEM에는 자동 피쳐 검토 (Auto Feature Review, AFR) 가 있어 관심 기능을 자동으로 식별하고 이미지 품질을 최대화하기 위해 이미지 매개 변수를 실시간으로 조정합니다. FS300i Type II는 뛰어난 해상도와 명암비를 제공합니다. Cold Field Emission High Brightness Source는 소음 수준이 낮은 고해상도 이미지를 획득 할 수있는 고도로 집중된 전자 빔을 생성합니다. 전자 빔은 또한 안정적인 전류로 유지되며, 이는 일관된 신호 대 잡음 비율을 보장합니다. 이 장치는 사용자 친화적이며 유지 보수가 적도록 설계되었습니다. 인체 공학적 설계는 SEM과의 쉽고 편안한 상호 작용을 허용하는 반면, 자기 교정 목표 렌즈 (self-calibrating objective lens) 는 장기 비활성화 후에도 성능을 유지합니다. 또한 내장 공기 진공 기계는 라이브 샘플을 위해 빠르고 호환 가능한 환경을 보장합니다. HITACHI FS300i Type II 는 다양한 소프트웨어 기능을 갖추고 있습니다. 이러한 기능에는 ABU (Automated Batch Butting and Unification), OBI (Off-axis Back-scattered Imaging) 및 커브 피팅 (Curve Fitting) 이 포함되며 다양한 응용 프로그램에서 사용할 수 있는 기능이 향상됩니다. 또한 다양한 검출기 및 이미징 액세서리와도 호환됩니다. FS300i Type II는 강력한 고해상도 SEM이 필요한 모든 연구 연구소에 이상적인 선택입니다. 높은 밝기 소스, 자동화된 운영, 인체 공학 설계, 소프트웨어 (Software) 기능을 통해 최적의 분석 결과를 얻을 수 있는 효율적이고 안정적인 툴을 제공합니다.