판매용 중고 HITACHI FB-2000A #9127945
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ID: 9127945
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 2001
Focused Ion Beam (FIB) system, 8"
Metro system
2001 vintage.
HITACHI FB-2000A 주사 전자 현미경 (SEM) 은 미세 구조의 이미징 및 분석을 위해 설계된 고정밀 기기입니다. 고급 이미징 기술, 통합 소프트웨어, 사용자 친화적 기능을 통해 광범위한 어플리케이션에 적합합니다. HITACHI FB 2000A는 저진공 (low-vacuum) 및 가변 압력 연산으로 최대 0.5nm 회선 해상도의 고해상도 이미지를 생성할 수 있습니다. 장비 구성 요소에는 고감도 전자 검출기, 고출력 쇼트키 (Schottky) 전계 방출 총 및 전자식 스캐닝 전자현미경이있는 마이크로 컬럼 (micro column) 이 포함됩니다. 총은 초점 조정이 잘되어 있어, 샘플의 초점이 잘 맞습니다. SEM에는 에너지 분산 X- 선 분광기 (EDS), 환경 SEM, 렌즈 내 검출기 시스템, 가스 분사 장치 등 여러 보조 영상 시스템이 장착되어 있습니다. 환경 SEM은 원시 상태에서 재료의 다차원 영상을 허용합니다. 렌즈 내 검출기 (in-lens detector machine) 는 2 차 전자를 검출하여, 원소 분석에 사용되는 것과 같은 표본에 가스를 주입 할 수있는 미세 구조 및 포트의 영상 및 분석을 가능하게한다. 또한 FB-2000 A 는 최신 자동화 기술을 채택하여 샘플 준비, 이미지 처리, 분석 등을 위한 다양한 애플리케이션을 제공합니다. 자동 시스템에는 샘플 로더, 홀더, 디블러러 및 분석 시스템이 장착되어 있어 사용자 편의성이 뛰어납니다. 또한, SEM 이미지에서 얻은 데이터를 포괄적으로 분석하도록 설계된 소프트웨어가 장착되어 있습니다. HITACHI FB-2000 A에는 재료 연구 및 개발, 의료 연구, 마이크로 피케이션 등 다양한 사용 편의성이 있습니다. 또한 뛰어난 스테이지 안정성을 제공하여 오랜 시간 동안 샘플 변위의 정확한 재생성을 보장합니다. 이 기기의 기능을 활용하면 매우 정확하고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 전반적으로, FB-2000A는 고급, 사용자 친화적 인 고해상도 스캐닝 전자 현미경이며, 미세한 구조와 관련된 다양한 이미징 및 분석 응용 프로그램에 적합합니다.
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