판매용 중고 HITACHI FB-2000 FIB / HD-2000 #71521
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판매
ID: 71521
빈티지: 2001
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
0.24nm resolution
2 million magnification
20 faster than TEM
Z-contrast transmitted image
Windows based user interface
Small, requires 4x5 meter room
FB-2000 is a focused ion beam tool used for sample preparation
Capable of producing extremely high resolution images of submicron structures
Capable of elemental analysis on submicron features using an x-ray detector that is part of the system
Both tools share inter-compatible sample holders which make transitions the sample from one tool to the other seamless
The STEM needs to be repaired
Low cost roughing pump needs to be replaced
High voltage supply needs to be repaired
Currently installed
2001 vintage.
HITACHI FB-2000 FIB/HD-2000은 SEM의 이미징 기능과 집중형 이온 빔 (FIB) 기술을 결합한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 두 기술을 결합하여 나노 구조의 이미징 및 처리를 허용합니다. FIB 기술을 사용하면 샘플을 밀링하고 이미징 (imaging) 을 준비한 다음, 더 높은 해상도의 이미징 및 분석을 위해 스캔할 수 있습니다. FB-2000에는 고배율 및 해상도에서 뛰어난 화질을 제공하는 고출력 방출 총 (FEG) 이 장착되어 있습니다. 또한 샘플 포지셔닝 및 조작을위한 높은 정밀 단계가 특징입니다. 이를 통해 다양한 샘플 크기와 유형의 정확하고 반복 가능한 이미징 (Imaging) 을 사용할 수 있습니다. FB-2000은 낮은, 중간 및 높은 진공 모드에서 이미징 할 수 있습니다. HD-2000은 FB-2000의 새로운 기능으로, 높은 해상도와 빠른 이미지 입수를 지원합니다. 최대 1000배까지 확장 및 해상도를 높일 수 있으며, 이미지 처리 및 분석 작업을 자동화할 수 있습니다 (영문). 또한 HD-2000 은 시야의 빠른 스캐닝을 지원하므로 샘플의 영역 별 (area specific) 분석에 적합합니다. 액세서리 측면에서 FB-2000은 EDX, EELS, SPM 및 BSE를 포함한 다양한 검출기 및 검출기 시스템과 호환됩니다. 또한 광범위한 자동 분석/처리 소프트웨어 (Automated Analysis and Processing Software) 를 지원하므로 샘플을 복잡하고 포괄적으로 분석할 수 있습니다. 또한 FB-2000/HD-2000은 사용이 간편한 사용자 인터페이스를 통해 작업을 쉽고 직관적으로 수행할 수 있습니다. 또한 전담 기술 팀 (Editional Technical Team) 의 포괄적인 교육 매뉴얼 (Manual) 과 지원 (Support) 을 통해 사용자가 자신의 유닛에서 최대한 활용하도록 지원합니다. 전반적으로 FB-2000 FIB/HD-2000은 나노 구조의 이미징 및 분석에 적합한 선택입니다. 이 제품은 FIB 및 SEM 기능을 결합하여 고해상도 및 배율에서 뛰어난 화질을 제공합니다. 광범위한 탐지기 (detector) 와 소프트웨어 프로그램 (software program) 과 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 다양한 애플리케이션에서 사용할 수 있습니다.
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