판매용 중고 HITACHI CV-4000 #9412084

HITACHI CV-4000
ID: 9412084
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2014
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12" 2014 vintage.
HITACHI CV-4000은 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 사용자가 재료 또는 유기체의 구조, 조성 및 기타 단계를 정확하고 효과적으로 분석 할 수있는 매우 높은 수준의 해상도를 제공합니다. SEM의 X- 선 검출기는 X- 선 신호를 감지하고 사진에 볼 수 있습니다. CV-4000은 고성능 LaB6 전자 건과 초고해상도 이미지를 제공하는 4 "시야각 이미징 장비를 갖추고 있습니다. 통합 된 STEM/FEG 열로, 현미경 시스템은 재료 과학 (materials science) 에서 생물학적 과학 (biological sciences) 에 이르기까지 광범위한 응용 분야에 사용하기에 적합합니다. HITACHI CV-4000 은 광범위한 이미지 처리 기능을 제공하며, 심층적인 현장 탐지 기능과 고성능 탐지 장치를 갖추고 있습니다. 초저전자 회절 도구 (diffraction tool) 를 갖춘 강력한 작동 진공기를 사용하여 사용자가 매우 상세한 이미지를 얻을 수 있습니다. 자동 정렬 자산을 통해 CV-4000 은 높은 이미징 정밀도를 유지할 수 있습니다. EDX (energy-distersive X-ray imaging) 용 cadmium-oxide 필터 및 원소 분석을위한 파장 분산 분광계 (WDS) 와 같은 추가 이미지 선명도에 대한 다양한 에너지 필터가 있습니다. 큰 이미징 깊이와 고감도 X- 선 검출기를 통해 HITACHI CV-4000은 3D 물체와 유기체의 분석에 적합합니다. 이 현미경에는 자동화된 샘플 교환 (sample exchange) 모델이 있는데, 이를 통해 빠르고 효율적인 샘플 로드 및 언로드가 가능하므로 사용자가 샘플 사이를 빠르게 전환할 수 있습니다. 통합 전자 프로브 마이크로 분석기 (micro-analyzer) 는 물질이나 유기체에 대한 고해상도 분석을 얻는 데 사용될 수있다. CV-4000 은 다양한 액세서리와 결합하여 이미징 기능을 향상시킬 수 있습니다. 현미경의 전압, 전류, 스테이지 위치를 제어하는 데 사용할 수있는 자동화 장비가 있습니다. 이를 통해 사용자는 감도 및 특이성이 향상된 이미지를 얻을 수 있습니다. HITACHI CV-4000에는 요소 식별을위한 EDS 시스템 (옵션) 과 현장 심도 측정을위한 레이저 마이크로 프로브 (laser micro-probe) 도 있습니다. 전반적으로, CV-4000은 강력한 분석 및 이미징 기능을 제공 할 수있는 강력하고 다용도 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미지 캡처용 광학 장치 (field-of-view optical unit) 와 빠른 샘플 준비를 지원하는 자동 샘플 교환 머신 (automated sample exchange machine) 을 갖추고 있습니다. STEM/FEG 열, 다양한 에너지 필터, 레이저 마이크로 프로브를 통합 한 HITACHI CV-4000 (HITACHI CV-4000) 은 다양한 연구 개발 응용 분야에 사용하기 이상적인 도구입니다.
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