판매용 중고 HITACHI CG-5000 #293824890

ID: 293824890
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" E-chuck Ergonomics modification system Circulator input voltage modification system UL Safety modification system SE-Gun back-up power supply Ion pump back-up power supply Scanning probe microscope (SPM) pre-focus Power cable Optical magnification system BSE Detection system ArF package Energy filter (3) Loadport N2 purge systems 100 nm standard microscale Hard Disk Drive (HDD) 2007 vintage.
HITACHI CG-5000은 뛰어난 성능을 지닌 뛰어난 이미징 기능을 제공하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. HITACHI CG5000 (HITACHI CG5000) 에는 최대 해상도와 선명도로 샘플을 이미징 할 수있는 대용량 고감도 전자 검출기가 장착되어 있습니다. 고해상도 SEM 이미징은 고해상도 X- 선 미세 분석, 분광학 이미징, 백스캐터 전자 이미징 (backscatter electron imaging) 을 포함한 여러 가지 다른 고급 기능으로 더욱 지원됩니다. CG 5000 은 샘플의 표면과 구조에 대한 명확한 이미징을 제공할 수 있습니다. HITACHI CG 5000 in-lens detector는 샘플에 의해 생성 된 반사 된 전자를 포획하여 이미지로 변환합니다. 빔의 가속 전압 (acceleration voltage) 과 검출기 (detector) 의 입사각 (angle of incidence) 을 조정하여 빔이 샘플을 균등하게 관통하여 최대 500,000 배의 이미지를 만들 수 있습니다. 또한 CG-5000 에는 물리적, 화학적 특성의 정확한 영상을 위해 샘플의 온도를 4K 이하로 유지할 수있는 냉동 온도 홀더 (cryo-temperature holder) 가 장착되어 있습니다. 또한, CG5000은 샘플의 표면 및 내부 구조에 대한 고해상도 이미지와 비디오를 찍을 수 있으며, 연구자들은 전례없는 정확도로 미세한 현상을 연구 할 수 있습니다. HITACHI CG-5000 은 사용하기 쉽고 터치스크린 인터페이스를 통해 작동할 수 있습니다. 단순화된 UI를 사용하면 전자 빔의 전압, 전류 (current), 수렴 각도 (convergence angle) 및 기타 매개변수를 빠르게 조정하여 원하는 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한 HITACHI CG5000 은 USB, LAN, HDMI 와 같은 접속 옵션을 통해 다른 디바이스를 사용하여 이미지를 실시간으로 보고 조작할 수 있습니다. 전반적으로, CG 5000은 강력하고 다용도 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 이미징 기능을 제공합니다. 사용하기 쉬운 인터페이스 및 고급 기능으로 인해 HITACHI CG 5000은 나노 스케일 이미징 (Nanoscale Imaging) 에서 엑스레이 마이크로 분석 (X-ray microanalysis) 이상에 이르기까지 다양한 어플리케이션을 위한 완벽한 도구입니다.
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