판매용 중고 HITACHI CG 4000 #9354892

HITACHI CG 4000은 다양한 기능을 갖춘 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 다양한 응용 분야에 이상적입니다. 전자빔 (Electron Beam) 기반의 이미징 기능은 사용자가 신뢰할 수 있고 정확한 이미지를 제공하는 반면, 폭넓은 필드와 뛰어난 해상도를 통해 강력한 성능을 제공합니다 (영문). 자동 제어 시스템을 통해 HITACHI CG4000 은 초고해상도 이미징 기능을 제공하여, 사용자가 나노미터 스케일 (scale) 기능을 정확하게 보고 분석할 수 있습니다. 강력한 전자 빔 (electron beam) 은 이미지를 생성하는 데 사용되거나 테스트 중에 프로브 (probe) 나 기구 (instruments) 를 안내하는 나노미터 규모의 에너지 반점을 생성 할 수 있습니다. CG-4000 이 사용하는 가속 전압 (Accelerated Voltage) 은 조절이 가능하므로 다양한 배율로 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한 고유한 광학 스테이징 (optical staging) 시스템을 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자는 총 아래에 샘플을 정확하게 배치할 수 있습니다. 이 기능을 사용하면 더 높은 해상도의 이미지를 재생성할 수 있습니다. HITACHI CG-4000은 재료 과학, 생명 과학, 반도체 연구 등 다양한 응용 분야에 적합합니다. 도체뿐만 아니라 절연체를 이미징 할 수 있으며, 백스캐터 전자 검출기 (backscatter electron detector) 및 2 차 전자 검출기 (secondary electron detector) 를 포함한 다양한 검출기와 호환됩니다. 이렇게 하면 서피스 피쳐에 대한 자세한 이미지를 얻을 수 있고, 정량적 (quantitative) 분석을 제공하고, 샘플에 대한 전기 테스트를 수행할 수 있습니다. 또한 CG 4000 은 고급 스캐닝 (Scanning) 기능을 통해 넓은 영역을 빠르고 정확하게 스캔할 수 있습니다. 빠른 스캐닝 (fast-scanning) 자동 빔 제어 시스템이 장착되어 있어 빔 잘못 배치 오류를 최소화하여 이미지를 일관되게 정밀하게 배치할 수 있습니다. 또한, 이 제품은 사용자에게 효과적인 분석/데이터 관리 툴을 제공하는 다양한 강력한 소프트웨어 애플리케이션 (software application) 을 제공합니다. 전반적으로, CG4000은 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 사용자에게 신뢰할 수있는 이미징 기능과 향상된 재생성을 제공합니다. 이 제품은 다양한 애플리케이션에 적합하며, 다양한 최첨단 (최첨단) 기능을 통해 고급 분석/테스트 (Advanced Analysis and Testing) 를 위한 최적의 옵션을 제공합니다.