판매용 중고 HITACHI CG 4000 #293819170
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ID: 293819170
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM), 12"
UI unit
Transfer unit
Main body
Power and chiller unit
System controller
Robot
Aligner
Robot controller
Mini‑EN unit
VME rack
EWS FA‑PC
EV, ST and HV modules
TMP power unit
SPM and MHV boards
Sensor AMP PCB
ST sensor PCB
EV and ST controller board
Power supply unit
W‑5010T chiller
AL CDN
Optics assembly
Stage assembly
2012 vintage.
HITACHI CG 4000은 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로 고성능 및 경제성의 탁월한 조합을 제공합니다. 다양한 샘플 분석 (sample analysis) 및 이미징 (imaging) 작업에 적합하며, 고급 모델 비용의 일부분에서 고해상도 이미지를 제공합니다. HITACHI CG4000은 고급 전자 빔 기술을 사용하여 최대 배율 약 1.5M × m (1.5 메가미터) 의 높은 배율 (1000x ~ 100000x) 에서 샘플 이미지를 생성합니다. 또한 작업 거리 1 ~ 270 mm (1 ~ 270 mm) 의 높은 해상도를 제공하여 큰 물체의 분석에 이상적입니다. CG-4000 은 스캐닝장 방출 전자원 (scanning field emission electron source) 을 고수준 에너지 필터 (high-level energy filter) 와 디플렉터와 결합하여 정밀 작동을 허용한다. HITACHI CG-4000은 고해상도 이미지를 제공하는 것 외에도 2 차 및 백스캐터링 된 전자 이미징 및 전자 요소 분석 (EDS) 이 가능합니다. 이러한 기능을 고급 이미징 기술과 결합하여 샘플 구성, 상대적 구성 차이, 추적 요소, 수정 구조 등의 특성을 감지할 수 있습니다. CG 4000 은 디지털 사진 카메라, 전동 x-y-z 스테이지, 직접 쓰기 시스템으로 구성되어 데이터를 손쉽게 수집, 분석할 수 있습니다. 또한 CG4000 은 자동 노출 제어, 내장 원격 작업 시스템, 작업 기록 추적 (operation-history tracking) 등 다양한 생산적인 기능을 제공합니다. HITACHI CG 4000도 사용이 간편하도록 설계되었습니다. 예를 들어, 자동 (automatic) 기능을 사용하면 운영자가 다양한 작업에 맞게 현미경을 쉽게 조정할 수 있으며, 사용자 친화적 인 터치 스크린 패널을 통해 손쉽게 작업을 수행할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI CG4000 은 합리적인 가격으로 최고 수준의 성능을 제공합니다. 스캐닝 기술 (Scanning Technology), 이미지 캡처 기능, 고해상도 (High Resolution) 의 탁월한 조합을 제공하여 다양한 애플리케이션에 적합합니다.
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