판매용 중고 HITACHI CG 4000 #293774188

HITACHI CG 4000은 고해상도 이미징 기능과 다양한 분석 기능으로 유명한 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. HITACHI CG4000은 다양한 혁신적인 기능과 최첨단 기술로, 재료 과학, 생명 과학, 지질학, 나노기술 등 다양한 분야의 연구 기관, 대학, 산업 연구소의 까다로운 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. CG-4000의 중심에는 나노 미터 (nanometer) 스케일에서 뛰어난 이미징 해상도를 제공하는 고성능 전자 기둥이 있습니다. FEG (Field Emission Gun) 를 갖춘 SEM은 밝기, 안정성이 높은 집중식 전자빔을 생성할 수 있으며, 이를 통해 뛰어난 선명도와 명암비를 지닌 표면의 상세한 시각화를 달성할 수 있습니다. 또한 FEG는 향상된 빔 제어 (beam control) 및 프로브 (probe) 전류 안정성을 제공하여 다양한 샘플 유형 및 어플리케이션에 대해 안정적이고 재현 가능한 이미징 결과를 제공합니다. CG4000은 효율적인 빔 초점, 스캐닝 및 이미징을 위해 다양한 전자기 및 정전기 렌즈를 포함하는 고급 전자 광학 장비를 갖추고 있습니다. 이 정교한 광학 설계를 통해 사용자는 뛰어난 해상도 (resolution) 와 심도 (depth of field) 를 가진 샘플의 미세 구조 기능 및 표면 형태를 살펴볼 수 있습니다. 또한 SEM에는 2 차 전자 (SE) 및 BSE (backscattered electron) 검출기를 포함한 여러 검출기가 장착되어 있어 사용자가 동시에 지형 및 구성 정보를 캡처 할 수 있습니다. HITACHI CG-4000 의 핵심 강점 중 하나는 다용도 분석 (versatile analysical) 기능으로, 사용자가 샘플 속성을 자세히 연구할 수 있는 다양한 특성화 기술을 수행할 수 있습니다. SEM에는 원소 분석을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 탐지기 (EDS) 가 장착되어 있으며, 사용자가 고감도 및 공간 해상도로 샘플의 화학 성분을 식별하고 정량화 할 수 있습니다. 통합 EDS 시스템은 데이터 획득, 처리, 요소 매핑을 위한 고급 소프트웨어 패키지로 보완되며, 심층적인 샘플 (sample) 특성화를 위한 종합적인 분석 툴을 제공합니다. CG 4000은 EDS 외에도 EBSD (electron backscatter diffraction) 및 CL (cathodoluminescence) 이미징과 같은 다른 분석 기술을 지원하여 사용자가 마이크로 스케일에서 샘플의 결정 학적 방향 및 광학 특성을 조사 할 수 있습니다. 이러한 분석 도구를 SEM 플랫폼과 완벽하게 통합함으로써 멀티스케일 (multiscale) 및 멀티모달 (multimodal) 이미징 및 분석을 수행할 수 있으며, 샘플 특성과 동작에 대한 전체적인 이해를 용이하게 합니다. HITACHI CG 4000 은 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스와 직관적인 제어 기능을 제공하므로 초보자 (novice) 사용자와 숙련된 사용자 (experience) 가 효율적으로 장치를 작동할 수 있습니다. SEM (Automated Imaging Function), 고급 이미지 처리 도구 (Advanced Image Processing Tools), 맞춤형 이미징 모드 (Customizable Imaging Mode) 를 통해 사용자는 특정 연구 요구 사항에 맞게 실험 매개변수를 조정할 수 있습니다. 또한, 이 기계에는 포괄적인 안전 (Safety) 기능과 유지 보수 (Maintenance) 프로토콜이 장착되어 있어 장기적인 안정성과 성능 안정성을 보장합니다. 요약하면, HITACHI CG4000 스캐닝 전자 현미경은 고해상도 이미징 기능과 고급 분석 기능을 결합하여 연구원과 과학자들에게 마이크로 및 나노 세계를 탐구하기위한 강력한 도구를 제공합니다. 최첨단 기술, 다용도 기능, 사용자 친화적 인터페이스 등을 갖춘 CG-4000 은 현미경 및 소재 특성 분야에서 SEM 성능 및 다용도에 대한 새로운 표준을 제시합니다.