판매용 중고 HITACHI 9300 #293761941
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ID: 293761941
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 2001
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8"
2001 vintage.
HITACHI 9300은 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로 처리량 저하 없이 고해상도 이미지를 제공합니다. 독보적인 설계를 통해 신속한 분석, 손쉬운 데이터 조작 및 콜레이션을 수행할 수 있습니다. SEM은 CFE (Cold Field-Emission) 전자 광학을 사용하여 고해상도 이미지를 생성합니다. 저전압 작동으로 섬세한 샘플을 이미징하는 데 이상적입니다. 고급 3kV 고진공 시스템은 높은 양자 효율을 보장하며 오염 물질을 제거합니다. 현미경은 또한 고해상도 (1nm 이상) 와 낮은 방사선 용량을 자랑합니다. 9300은 광범위한 표본을 캡처 할 수 있습니다. 마이크로 일렉트로닉 성분에서 생물학적 샘플에 이르기까지 다양합니다. 내장 된 가속 전 기능 (pre-acceleration function) 은 최대 신호 대비를 위해 가변 필드 강도를 제공하는 반면, 강력한 이미지 획득 시스템은 샘플의 많은 부분을 신속하게 이미징할 수 있습니다. 또한, 고급 기계 구조 (advanced machine structure) 는 열 하중 감소와 냉각 속도 향상으로 인해 광범위한 재료의 영상을 허용합니다. 통합 Joystick 작동 스테이지는 반자동 이미지 캡처 및 조작을 허용합니다. 또한 SEM에는 샘플을 실시간으로 분석 할 수있는 온보드 컴퓨터가 있습니다. 온보드 실시간 프로세서 (Real Time Processor) 가 장착되어 있어 이미지 대기 시간이 줄고 신속한 이미지 데이터 캡처가 가능합니다. HITACHI 9300 의 이미지 재구성 기능을 통해 고품질 (HITACHI) 컴포지트 이미지를 생성할 수 있으며, 3D 이미징, 관심 영역 분석 등의 애플리케이션에 적합합니다. 최첨단 Electromagnetic Weapons Shield 검출기는 향상된 노이즈 저항과 이미지 품질을 제공합니다. 전반적으로, 9300은 신뢰할 수 있고 다용도 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 이미징 기술에 적합합니다. 고해상도 (High-resolution) 이미지를 제공하며, 탁월한 처리량을 유지하며, 다양한 기능을 통해 미세한 이미징에 필수적인 툴이 됩니다.
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