판매용 중고 GSM ST 60N-B4 #9394812

GSM ST 60N-B4는 다양한 재료 응용을 위해 설계된 고성능 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 진공실, 전자 총, 소스 및 검출기를 포함하는 독립형 장비입니다. 전자총은 전계 방출원 (Field Emission Source) 을 기반으로하며, 측면 및 깊이 확산이 적은 고해상도 이미지를 전달할 수 있습니다. 또한 전자빔 (electron beam) 의 초점을 정확하게 조정하는 데 도움이되는 고급 전자 표시기 시스템 (advanced electron indicator system) 도 포함되어 있습니다. ST 60N-B4에는 1.0nm의 해상도를 제공 할 수있는 표준 50mm 오브젝티브 렌즈가 장착되어 있습니다. 또한 120mm 오브젝티브 렌즈 (옵션) 가 제공되어 해상도를 0.117nm로 향상시킵니다. 검출기 장치는 두 세트의 검출기로 구성됩니다. 후방 산란 탐지기 (backscatter detector) 는 후진 방향으로 탈출하는 샘플과 상호 작용하는 전자에 의해 생성 된 2 차 전자를 검출하는 데 사용된다. 이차 전자 검출기 (secondary electron detector) 는 표본에서 전방 방향으로 나타나는 2 차 전자를 검출하는 데 사용되는 반면, 이 기계에는 다양한 샘플로 최적의 성능을 제공하는 저전압 제어 도구 (Low Voltage Control Tool) 도 내장되어 있습니다. GSM ST 60N-B4는 압력 0.1 Pa에 도달 할 수있는 진공 챔버 (vacuum chamber) 로 설계되었습니다. 또한 프로그램 가능한 전원 공급 장치와 함께 제공되며, 전자 총에 일정하고 안정적인 전류를 공급하는 데 사용됩니다. 마지막으로 ST 60N-B4 는 전용 제어 소프트웨어 패키지와 함께 제공되므로 강력한 사용자 인터페이스 (user interface) 및 조정 가능한 매개변수를 사용할 수 있습니다. 과학자가 다른 SEM 스캔 모드를 구성하고 사용자 정의하기 쉽습니다. 이것은 재료의 구조적, 미세 구조적 분석을 수행하는 데 귀중한 도구입니다.